C8051F040 vs C8051F000 Comparación

Comparación detallada lado a lado de C8051F040 por Silicon Labs y C8051F000 por Silicon Labs. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

Comparación de especificaciones

Parámetro C8051F040 C8051F000
Marca Silicon Labs Silicon Labs
Categoría Microcontrollers Microcontrollers
Estado del ciclo de vida Activo Unknown
Product Type 8-bit mixed-signal system-on-chip microcontroller —
Frecuencia de reloj máxima 25 MHz 20 MHz
Core Performance 25 MIPS —
Program Memory Type 64 KB In-System Programmable Flash —
RAM 256 bytes 256 x 8 bits
External RAM 4 KB —
Digital I/O Pins 64 pins —
ADC Resolution 12 bits —
ADC Channels 13 channels —
ADC Maximum Sampling Rate 100 ksps —
DAC Channels 2 channels at 12-bit resolution —
Comparator Count 3 comparators —
Timers 5 timers —
Serial Interfaces SPI, SMBus, I2C, and 2 UARTs —
CAN Controller Integrated CAN 2.0B controller —
On-Chip Temperature Sensor Integrated —
Programmable Counter Array Integrated PCA —
Encapsulado 100-pin TQFP, 14 mm x 14 mm 64-TQFP, 10 x 10 mm
Tipo de montaje Surface mount Surface mount
Tensión de alimentación [DATA_NEEDED: supply voltage range] 2.7 V to 3.6 V
Temperatura de funcionamiento [DATA_NEEDED: operating temperature range] [DATA_NEEDED: operating temperature range]
Estado RoHS [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] [DATA_NEEDED: RoHS compliance status]
REACH Status [DATA_NEEDED: REACH compliance status] —
Core — 8051-compatible CIP-51 core
Maximum CPU Performance — 20 MIPS
Program Memory — 32 KB ISP flash
ADC — 12-bit SAR ADC
ADC Input Channels — 9-channel input multiplexer
ADC Throughput — Up to 100 ksps
ADC Accuracy — INL ±1 LSB
ADC Programmable Gain Amplifier — On-chip programmable-gain amplifier
DAC — 12-bit, 2-channel DAC
Comparators — 2 comparators
Temperature Sensor — On-chip temperature sensor, ±3 °C stated accuracy
Debug Interface — On-chip JTAG, full-speed non-intrusive in-circuit debug

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