EP20K400GC655-3 vs EP20K400GC655-1 Comparación

Comparación detallada lado a lado de EP20K400GC655-3 por Intel y EP20K400GC655-1 por Intel. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

Intel
EP20K400GC655-3 EP20K400GC655-3 - 400K Gate APEX-20KC FPGA 655-BCPGA | Intel

EP20K400GC655-3 - 400K Gate APEX-20KC FPGA 655-BCPGA | Intel

EP20K400GC655-3 ⚠ Última compra

Comparación de especificaciones

Parámetro EP20K400GC655-3 EP20K400GC655-1
Marca Intel Intel
Categoría FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Estado del ciclo de vida Última compra Obsolete
Estado del stock In Stock In Stock
Precio unitario (USD) $310,00 $135,00
Series APEX-20KC EP20K400
Family APEX 20K APEX 20K
Manufacturer Intel (formerly Altera) —
Logic Elements 16640 16,640
Total RAM Bits 212992 212,992
Number of Gates 400000 —
Supply Voltage - Core 1.71 V to 1.89 V (1.8 V nominal) —
I/O Voltage Tolerance MultiVolt I/O: 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5 V —
Temperatura de funcionamiento -40C to +85C (industrial) 0 °C to +85 °C (commercial)
Maximum Frequency 167 MHz (per FPGAkey) —
Process Technology 0.22 um CMOS 0.22 µm CMOS
Encapsulado / Carcasa 655-BCPGA —
Supplier Device Package 655-CPGA (62.48 x 62.48 mm) —
Speed Grade -3 (slowest grade in family) —
Propagation Delay (tPD) 3.6 ns (per Microchip USA listing) —
JTAG Support IEEE 1149.1 Boundary-Scan —
Configuration Modes Passive Serial, Passive Parallel Sync/Async, Active Serial Passive Serial, Passive Parallel Async, Passive Parallel Sync
Estado RoHS [DATA_NEEDED: rohs status] Non-compliant (contains lead in ceramic package)
Maximum Gates — 1,052,000
Typical Gates — 400,000
Embedded System Blocks (ESBs) — 4
Maximum User I/O — 502
Dedicated Inputs — 6
Core Supply Voltage — 2.5 V
I/O Supply Voltage — 3.3 V
Maximum Internal Frequency — 250 MHz
Propagation Delay — 2.5 ns
Encapsulado — 655-pin CPGA (Ceramic Pin Grid Array)
Recuento de pines — 655
Tipo de montaje — Through-Hole
Boundary Scan — IEEE 1149.1 (JTAG)

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