EPF8636AQC208-4 vs EPF8636AQC208-2 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPF8636AQC208-4 par Altera et EPF8636AQC208-2 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPF8636AQC208-4 | EPF8636AQC208-2 |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Intel |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $35,33 | $18,95 |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 |
| Logic Elements | 504 | — |
| Typical Usable Gates | 6,000 | — |
| Maximum Usable Gates | 12,000 | — |
| User I/O Pins | 136 | — |
| Maximum Operating Frequency | 125 MHz | — |
| Tension d'alimentation | 4.75 V to 5.25 V (5 V nominal) | — |
| Température de fonctionnement | 0 °C to +70 °C (commercial) | 0 °C to 70 °C (Commercial) |
| Speed Grade | -4 | — |
| Package Type | 208-pin PQFP / BFQFP (28 x 28 mm) | — |
| Process Technology | 0.42 µm CMOS, SRAM-based | 0.42 µm CMOS SRAM |
| Configuration Method | Serial / Passive Parallel Asynchronous with ICR (in-circuit reconfigurability) | SRAM - serial or parallel EPROM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, or system controller |
| Embedded Memory | Embedded Array Blocks (EABs) for RAM/ROM/FIFO | — |
| Boundary Scan | JTAG IEEE 1149.1 | — |
| Logic Family | CMOS | CMOS |
| Type de montage | Surface Mount | Surface Mount |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| Series | — | FLEX 8000 |
| Number of Logic Elements/Cells | — | 504 |
| Number of Gates | — | 6000 |
| Number of LABs/CLBs | — | 63 |
| Number of I/O | — | 136 |
| Tension d'alimentation de fonctionnement | — | 4.75 V to 5.25 V |
| Boîtier | — | 208-BQFP / 208-PQFP (Plastic Quad Flat Pack) |
| In-Circuit Reconfigurability | — | Yes (ICR via SRAM configuration) |
| Statut du cycle de vie | — | Obsolete (EOL) |