EPM3512AQC208-3N vs EPM3512AQC208-15N Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de EPM3512AQC208-3N par Altera et EPM3512AQC208-15N par Altera. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Altera
EPM3512AQC208-15N EPM3512AQC208-15N - 512-Macro CPLD MAX 3000A PQFP-208 | Altera

EPM3512AQC208-15N - 512-Macro CPLD MAX 3000A PQFP-208 | Altera

EPM3512AQC208-15N ⚠ Dernier achat

Comparaison des spécifications

Paramètre EPM3512AQC208-3N EPM3512AQC208-15N
Marque Altera Altera
Catégorie FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Statut du cycle de vie Obsolete Dernier achat
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $16,40 $20,50
Family MAX 3000A MAX 3000A
Macrocells 512 —
User I/O Pins 172 —
Logic Array Blocks (LABs) 16 16
Macrocells per LAB 32 —
Pin-to-Pin Logic Delay 3 ns (speed grade -3) —
Global Clock Setup Time [DATA_NEEDED: actual tSU at 3 ns grade] —
Core Supply Voltage (VCCINT) 3.3 V —
I/O Supply Voltage (VCCIO) 3.3 V (MultiVolt 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant) 2.5 V / 3.3 V (MultiVolt)
Température de fonctionnement 0C to +70C (commercial) 0C to +70C (commercial)
Boîtier PQFP-208 PQFP-208 (QC208)
Type de montage Surface Mount Surface Mount
Programming Technology EEPROM (non-volatile, in-system programmable) —
JTAG / Boundary Scan IEEE 1149.1 compliant —
ISP Compliance IEEE Std. 1532 —
Statut RoHS [DATA_NEEDED: not stated in retrieved snippets] [DATA_NEEDED: RoHS status]
Lead-Free / Halogen-Free [DATA_NEEDED] —
Device Type — CPLD - Complex Programmable Logic Device
Macro Cells — 512
Maximum User I/O Pins — 172
Typical Usable Gates — 12,000
Number of Logic Elements — 512
Pin-to-Pin Delay (tPD) — 15 ns
Operating Supply Voltage (VCCINT) — 3.3 V
Programmable I/O Standards — LVTTL, LVCMOS, PCI (with external resistor)
In-System Programmability — Yes (IEEE Std. 1532 compliant)
Configuration Memory — EEPROM (non-volatile)
JTAG Support — Yes (BST/Boundary-Scan Test)

Fiches techniques et ressources

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