MT25QL128ABB8ESF-0AUT vs N25Q128A13ESFA0F Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de MT25QL128ABB8ESF-0AUT par Micron Technology et N25Q128A13ESFA0F par Micron Technology. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Micron Technology
MT25QL128ABB8ESF-0AUT MT25QL128ABB8ESF-0AUT - 128Mb SPI NOR Flash 133MHz | Micron

MT25QL128ABB8ESF-0AUT - 128Mb SPI NOR Flash 133MHz | Micron

MT25QL128ABB8ESF-0AUT ✓ Actif
Micron Technology
N25Q128A13ESFA0F N25Q128A13ESFA0F - 128Mb SPI NOR Flash 108MHz | Micron

N25Q128A13ESFA0F - 128Mb SPI NOR Flash 108MHz | Micron

N25Q128A13ESFA0F ✓ Actif

Comparaison des spécifications

Paramètre MT25QL128ABB8ESF-0AUT N25Q128A13ESFA0F
Marque Micron Technology Micron Technology
Catégorie Memory ICs EEPROM
Statut du cycle de vie Actif Actif
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $4,02 $2,95
Type de mémoire NOR Flash - Serial (SPI/Dual/Quad SPI) Serial NOR Flash Memory
Density 128 Mbit (16 MB) 128 Mbit (16 MB)
Supply Voltage (VCC) 3 V (2.7 V to 3.6 V) —
Fréquence d'horloge maximale 133 MHz —
Interface SPI - Quad I/O (SPI, Dual SPI, Quad SPI) SPI (Standard / Dual / Quad I/O)
Boîtier 16-SOP2 (16-pin SOIC) 16-Pin SO W (SOIC wide-body, 300 mil)
Température de fonctionnement -40C to +125C [DATA_NEEDED: operating temperature range]
Grade Automotive (AEC-Q100) —
FBGA Die Code RW311 —
Organisation de la mémoire 128M x 1 / 64M x 2 / 32M x 4 bit 16M x 8
Type de montage Surface Mount Surface Mount
Product Longevity Program No —
Protocol Family MT25Q (ESF standard SPI instruction set) —
Addressing 3-byte and 4-byte address modes —
Access Time 6 ns 7 ns
Statut RoHS Compliant [DATA_NEEDED: RoHS status]
Marking Code RW311 —
Max Clock Frequency — 108 MHz
Tension d'alimentation — 3 V / 3.3 V
Subsector Erase — 4 KByte (boot sectors)
XiP Support — Yes (Execute-In-Place)
Packaging — Tape & Reel (T/R)
Program/Erase Endurance — [DATA_NEEDED: endurance cycles]
Data Retention — [DATA_NEEDED: retention years]

Fiches techniques et ressources

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