RTAX250S-1CG624E vs RTAX250S-CG624EV Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de RTAX250S-1CG624E par Microchip Technology et RTAX250S-CG624EV par Microchip Technology. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Microchip Technology
RTAX250S-1CG624E RTAX250S-1CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA 624-CCGA | Microchip

RTAX250S-1CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA 624-CCGA | Microchip

RTAX250S-1CG624E ✓ Actif
Microchip Technology
RTAX250S-CG624EV RTAX250S-CG624EV - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX250S-CG624EV - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX250S-CG624EV ✓ Actif

Comparaison des spécifications

Paramètre RTAX250S-1CG624E RTAX250S-CG624EV
Marque Microchip Technology Microchip Technology
Catégorie FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Statut du cycle de vie Actif Actif
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $960,00 $0,00
Family RTAX-S Radiation-Tolerant FPGA RTAX-S RadTolerant FPGA
Equivalent System Gates 250,000 —
Logic Cells 2816 4224 cells
Maximum Toggle Frequency 649 MHz —
CLB Combinatorial Delay (Max) 0.930 ns —
Core Supply Voltage 1.5 V 1.5 V
Process Technology 0.15 um CMOS antifuse 0.15 um CMOS
Speed Grade -1 (approximately 15% faster than standard) —
Boîtier 624-pin Ceramic Column Grid Array (CCGA) —
Température de fonctionnement -55C to +125C -55C to +125C
Configuration Type One-time programmable antifuse, live at power-up —
Logic Family CMOS CMOS
SEU Hardening SEU-hardened registers, immune to single-event upsets —
Embedded Memory Embedded SRAM with built-in FIFO control —
Type de montage Surface Mount Surface Mount (ceramic column grid array)
Application Domain Space flight / satellite systems —
System Gates — 250000 gates
Configurable Logic Blocks (CLBs) — 2816
Fréquence d'horloge maximale — 649 MHz
Package Type — 624-pin Ceramic Grid Array (CGA/CCGA)
Nombre de broches — 624
Radiation Tolerance — SEU-hardened registers; SEU rate < 10-10 errors per bit-day
SEU Immunity — [DATA_NEEDED: LET threshold (MeV-cm2/mg)]
Configuration — Anti-fuse, live-at-power-up, single chip
Statut RoHS — [DATA_NEEDED: RoHS status]

Fiches techniques et ressources

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