EPF10K100EQC240-3 vs EPF10K100EQC240-1 तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना EPF10K100EQC240-3 द्वारा Intel और EPF10K100EQC240-1 द्वारा Altera. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
विशेषता तुलना
| पैरामीटर | EPF10K100EQC240-3 | EPF10K100EQC240-1 |
|---|---|---|
| ब्रांड | Intel | Altera |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | NRND | Obsolete |
| Family | FLEX 10KE | FLEX 10KE |
| Logic Elements / Cells | 4,992 | 4992 |
| Total Gates | 100,000 typical | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 624 | — |
| Total RAM Bits | 49,152 | 49152 |
| Embedded System Blocks (ESBs) | 12 | — |
| User I/O Count | 189 | — |
| Number of I/O Banks | [DATA_NEEDED: I/O bank count] | — |
| Core Voltage (VCCINT) | 2.5 V (±0.25 V) | — |
| I/O Voltage (VCCIO) | 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V | — |
| Operating Frequency (max) | 200 MHz | — |
| Process Technology | 0.25 µm SRAM | CMOS (0.42 µm) |
| पैकेज | 240-pin PQFP (32.1 × 32.1 mm) | 240-BFQFP (PQFP240, 32 x 32 mm) |
| Speed Grade | -3 (fastest commercial) | — |
| PLL Count | 4 | — |
| JTAG Support | Yes (IEEE 1149.1 boundary-scan) | IEEE 1149.1 Boundary-Scan |
| Configuration Method | SRAM + JTAG / PS / AS modes | SRAM (serial / JTAG) |
| ऑपरेटिंग तापमान | 0 °C to +70 °C (commercial) | 0 °C to 70 °C (Commercial) |
| माउंटिंग प्रकार | Surface Mount | Surface Mount |
| RoHS स्थिति | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: rohs] |
| Series | — | FLEX-10KE |
| Number of LABs / CLBs | — | 624 |
| Typical Gate Count | — | 100000 |
| Number of User I/Os | — | 189 |
| Supply Voltage (Core) | — | 2.375 V to 2.625 V |
| I/O Voltage | — | 3.3 V (MultiVolt: 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V) |
| Propagation Delay | — | 0.4 ns to 0.6 ns |
| माउंटिंग स्टाइल | — | SMD / SMT |
| Embedded Memory | — | EABs (12 blocks × 2048 bits) |
| Status | — | Obsolete (EOL) |