EPF8282ATI100-3S vs EPF8282ATI100-3N तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना EPF8282ATI100-3S द्वारा Intel और EPF8282ATI100-3N द्वारा Altera. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
Intel
EPF8282ATI100-3S - FLEX 8000 FPGA, 2.5K Gates, 100-TQFP | Intel / Altera
EPF8282ATI100-3S Nrndविशेषता तुलना
| पैरामीटर | EPF8282ATI100-3S | EPF8282ATI100-3N |
|---|---|---|
| ब्रांड | Intel | Altera |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | NRND | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 |
| Device Logic Elements / Cells | 208 | — |
| Number of LABs/CLBs | 26 | — |
| Number of Logic Elements / Cells | 208 | — |
| Total RAM Bits | [DATA_NEEDED: embedded RAM bits] | — |
| Number of I/O | 78 | — |
| Number of Gates | 2500 | — |
| Voltage - Supply | 5 V | — |
| ऑपरेटिंग तापमान | -40C to +85C (industrial, I grade) | 0C to +70C |
| माउंटिंग प्रकार | Surface Mount | Surface Mount |
| पैकेज / केस | 100-TQFP | — |
| Supplier Device Package | 100-TQFP | — |
| Speed Grade | -3 | — |
| Maximum Toggle Frequency | 125 MHz | — |
| Architecture | SRAM-based, in-circuit reconfigurable (ICR) | — |
| Boundary Scan | IEEE 1149.1 (JTAG) | — |
| Process Technology | CMOS | 0.42 um CMOS SRAM |
| RoHS स्थिति | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Logic Cells | — | 208 |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 26 |
| Usable Gates | — | 2,500 |
| User I/Os | — | 78 |
| Maximum Operating Frequency | — | 125 MHz |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | — | 5 V |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | — | 3.3 V or 5.0 V |
| पैकेज | — | 100-pin TQFP |
| Configuration Memory | — | SRAM (volatile) |
| Configuration Devices Supported | — | EPC1, EPC1064, EPC1213, EPC1441 |
| In-Circuit Reconfigurability | — | Yes (ICR) |
| Boundary-Scan Support | — | IEEE 1149.1 JTAG |