MT40A512M8RH-075E:B vs K4A4G085WD-BCTD 比較
詳細な並列比較: MT40A512M8RH-075E:B メーカー: Micron Technology および K4A4G085WD-BCTD メーカー: Samsung Electronics。主要仕様、電気的特性、パッケージ、ライフサイクルステータス、価格、在庫状況を比較して、設計要件に最適な部品を判断してください。
Samsung Electronics
K4A4G085WD-BCTD - 4Gb DDR4 SDRAM 512Mx8 2666Mbps | Samsung
K4A4G085WD-BCTD ✓ 生産中仕様比較
| パラメータ | MT40A512M8RH-075E:B | K4A4G085WD-BCTD |
|---|---|---|
| ブランド | Micron Technology | Samsung Electronics |
| カテゴリ | Memory ICs | Memory ICs |
| ライフサイクル状態 | 有効 | 有効 |
| 在庫状況 | In Stock | In Stock |
| 単価（USD） | $2.15 | $2.05 |
| メモリタイプ | DDR4 SDRAM | DDR4 SDRAM |
| Density | 4 Gbit | 4 Gb |
| メモリ構成 | 512M x 8 | 512M x 8 |
| データレート | 2666 MT/s (DDR4-2666) | 2666 Mbps/pin |
| Clock Frequency | 1333 MHz (1.33 GHz) | — |
| VDD Supply Voltage | 1.2 V +/-60 mV | — |
| VDDQ Supply Voltage | 1.2 V +/-60 mV | — |
| VPP Supply Voltage | 2.5 V, -125 mV/+250 mV | — |
| インターフェースタイプ | Parallel | — |
| I/O Structure | 1.2V pseudo open-drain | — |
| 基準電圧 | On-die internal adjustable VREFDQ generation | — |
| パッケージ | 78-FBGA (9 x 10.5 mm), TFBGA | 78-ball FBGA |
| 実装タイプ | Surface Mount | Surface Mount |
| 動作温度 | [DATA_NEEDED: operating temperature range (standard grade)] | 0C to +85C |
| Refresh | Refresh max interval extension at extended TC temperature range (125C capable per family features) | — |
| Speed Grade Suffix | -075E | — |
| RoHS ステータス | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| Packaging Option Suffix | :B (ball map B designation per Mouser listing) | — |
| Die Generation | — | D-die |
| 電源電圧 | — | 1.2 V |
| Ball Pitch | — | 0.8 mm |
| インターフェース | — | DDR4 (JEDEC-compatible) |
| Speed Class | — | DDR4-2666 (PC4-21300) |
| Bank Architecture | — | DDR4 bank-group architecture |
| On-Die Termination (ODT) | — | Yes |
| DLL | — | Yes |
| MSLレベル | — | [DATA_NEEDED: moisture sensitivity level] |