EP1K100FC484-2 vs EP1K100FC484-3N Comparação
Comparação detalhada lado a lado de EP1K100FC484-2 por Altera e EP1K100FC484-3N por Intel. Compare especificações principais, parâmetros elétricos, encapsulamento, status do ciclo de vida, preços e disponibilidade para determinar o melhor componente para os requisitos do seu projeto.
Comparação de especificações
| Parâmetro | EP1K100FC484-2 | EP1K100FC484-3N |
|---|---|---|
| Marca | Altera | Intel |
| Categoria | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Status do ciclo de vida | Obsolete | Última compra |
| Status do estoque | In Stock | In Stock |
| Preço unitário (USD) | $33,40 | $65,10 |
| Series | ACEX-1K | — |
| Family | ACEX 1K | ACEX 1K |
| Logic Elements / Cells | 4992 | — |
| Total RAM Bits | 49152 | 49,152 |
| Number of LABs/CLBs | 624 | — |
| Number of User I/O | 333 | — |
| System Gates (typical) | 100000 | — |
| Number of Gates | 257000 | — |
| Operating Supply Voltage (Core) | 2.5 V (2.375 V to 2.625 V) | — |
| I/O Supply Voltage | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V (multi-volt I/O) | — |
| Maximum Internal Clock Frequency | 250 MHz | — |
| Process Technology | 0.22 µm CMOS | 0.22 µm CMOS |
| Faixa de temperatura de operação | 0 °C to 70 °C (Commercial, TA) | — |
| Encapsulamento | 484-BBGA (FineLine BGA, 1.0 mm pitch) | 484-ball FBGA |
| Tipo de montagem | Surface Mount (SMD) | Surface Mount |
| Embedded Memory Type | Dual-port RAM / ROM (EABs) | — |
| Status do ciclo de vida | Obsolete (EOL) | — |
| Status RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Lead-Free | [DATA_NEEDED: lead-free status] | — |
| Logic Elements | — | 4,992 |
| Typical Gate Count | — | 100,000 gates |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 624 |
| Embedded Array Blocks (EABs) | — | 12 |
| User I/Os | — | 333 |
| Operating Voltage (VCCINT) | — | 2.5 V |
| Internal Operating Frequency | — | up to 200 MHz |
| Speed Grade | — | -3 |
| Configuration Method | — | Passive Serial, JTAG, PPA |
| I/O Standards Supported | — | LVTTL, LVCMOS, PCI, 2.5V/3.3V/5V multiVolt I/O |
| Operating Temperature (Commercial) | — | 0 °C to +70 °C |
| Boundary-Scan Test | — | IEEE 1149.1 (JTAG) |