EPF8282ATI100-3S vs EPF8282ATC100-2W موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPF8282ATI100-3S بذریعہ Intel اور EPF8282ATC100-2W بذریعہ Altera. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Intel
EPF8282ATI100-3S - FLEX 8000 FPGA, 2.5K Gates, 100-TQFP | Intel / Altera
EPF8282ATI100-3S Nrndخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPF8282ATI100-3S | EPF8282ATC100-2W |
|---|---|---|
| برانڈ | Intel | Altera |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | NRND | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 |
| Device Logic Elements / Cells | 208 | — |
| Number of LABs/CLBs | 26 | — |
| Number of Logic Elements / Cells | 208 | — |
| Total RAM Bits | [DATA_NEEDED: embedded RAM bits] | — |
| Number of I/O | 78 | — |
| Number of Gates | 2500 | — |
| Voltage - Supply | 5 V | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | -40C to +85C (industrial, I grade) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| پیکیج / کیس | 100-TQFP | — |
| Supplier Device Package | 100-TQFP | — |
| Speed Grade | -3 | -2 |
| Maximum Toggle Frequency | 125 MHz | — |
| Architecture | SRAM-based, in-circuit reconfigurable (ICR) | — |
| Boundary Scan | IEEE 1149.1 (JTAG) | — |
| Process Technology | CMOS | 0.5 micron CMOS SRAM |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Logic Elements | — | 282 |
| Typical Gates | — | 2,500 |
| Maximum Gates | — | 5,000 |
| User I/O Pins | — | 78 |
| Flip-Flops | — | 208 |
| Embedded RAM Bits | — | 208 |
| پیکیج | — | 100-pin TQFP |
| Operating Temperature Grade | — | Industrial ("W" suffix) |
| Configuration Method | — | SRAM, serial or parallel EPROM |
| JTAG Support | — | Yes (IEEE 1149.1 boundary-scan) |