MC9S08QE8CLC vs MC9S08LC36LK مقارنة
مقارنة تفصيلية جنبًا إلى جنب لـ MC9S08QE8CLC بواسطة NXP Semiconductors و MC9S08LC36LK بواسطة NXP Semiconductors. قارن المواصفات الرئيسية والمعلمات الكهربائية والتغليف وحالة دورة الحياة والأسعار والتوافر لتحديد أفضل مكوّن لمتطلبات تصميمك.
NXP Semiconductors
MC9S08QE8CLC - 8-bit S08 MCU 8KB Flash 20MHz 32-LQFP | NXP
MC9S08QE8CLC ✗ انتهى عمره الإنتاجيNXP Semiconductors
MC9S08LC36LK - 8-bit S08 MCU, 36KB Flash, LCD Driver | NXP
MC9S08LC36LK ✗ انتهى عمره الإنتاجيمقارنة المواصفات
| المعامل | MC9S08QE8CLC | MC9S08LC36LK |
|---|---|---|
| العلامة التجارية | NXP Semiconductors | NXP Semiconductors |
| الفئة | Microcontrollers | Microcontrollers |
| حالة دورة الحياة | نهاية العمر الإنتاجي | نهاية العمر الإنتاجي |
| Core Processor | S08 (8-bit HCS08) | S08 (HCS08) 8-bit CISC |
| Core Size | 8-bit | 8-bit |
| Maximum CPU Frequency | 20 MHz | — |
| Program Memory Size | 8KB (8K x 8) | — |
| Program Memory Type | FLASH | — |
| RAM Size | 512B | [DATA_NEEDED: RAM Size] |
| ADC Resolution | 12-bit | 10-bit |
| ADC Channels | 10 channels | — |
| Number of I/O | 26 | 18 I/O ports |
| Analog Comparator | Yes (1 comparator) | — |
| Clock Source | Internal clock source / external crystal | — |
| Architecture | CISC | — |
| العلبة | 32-LQFP (7x7 mm) | 80-LQFP (12x12 mm body, 0.50 mm pitch) |
| نوع التركيب | Surface Mount | Surface Mount |
| درجة حرارة التشغيل | -40C to 85C | [DATA_NEEDED: Operating Temperature Range] |
| جهد التغذية | [DATA_NEEDED: supply voltage range] | — |
| Series | S08QE (Flexis QE series) | — |
| حالة دورة الحياة | End of Life (per NXP product page) | End of Life (per NXP product page) |
| أقصى تردد للساعة | — | 40 MHz |
| Flash Memory | — | 36KB (36K x 8) |
| Supply Voltage Range | — | 1.8 V to 3.6 V |
| Instruction Set | — | HC08 with added BGND instruction |
| LCD Controller | — | Integrated LCD driver |
| Communication Interfaces | — | I2C, SPI |
| Timers / PWM | — | PWM |
| Package Dimensions | — | 10 x 10 mm, 1.40 mm height |
| Debug System | — | Background debugging with single breakpoint in-circuit |