RTAX1000S-LG624V vs RTAX250S-CG624E مقارنة

مقارنة تفصيلية جنبًا إلى جنب لـ RTAX1000S-LG624V بواسطة Microchip Technology و RTAX250S-CG624E بواسطة Microchip Technology. قارن المواصفات الرئيسية والمعلمات الكهربائية والتغليف وحالة دورة الحياة والأسعار والتوافر لتحديد أفضل مكوّن لمتطلبات تصميمك.

Microchip Technology
RTAX1000S-LG624V RTAX1000S-LG624V - 1M-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX1000S-LG624V - 1M-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX1000S-LG624V ✓ نشط
Microchip Technology
RTAX250S-CG624E RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip

RTAX250S-CG624E ✓ نشط

مقارنة المواصفات

المعامل RTAX1000S-LG624V RTAX250S-CG624E
العلامة التجارية Microchip Technology Microchip Technology
الفئة FPGA & CPLD FPGA & CPLD
حالة دورة الحياة نشط نشط
Family RTAX-S/SL Radiation-Tolerant FPGA RTAX-S radiation-tolerant FPGA
Equivalent System Gates 1,000,000 —
Logic Cells 18144 —
Configurable Logic Blocks (CLBs) 12096 —
Technology Digital CMOS, antifuse-based —
Core Supply Voltage 1.5 V (nominal) 1.5 V
Configuration Type One-Time Programmable (antifuse), live at power-up —
Embedded Memory Embedded SRAM with built-in FIFO control logic —
العلبة CG624 (624-pin ceramic column grid array, LG624) —
درجة حرارة التشغيل -55C to +125C -55C to +125C
Application Domain Space-flight systems, radiation-tolerant —
Maximum Family Density 4,000,000 equivalent system gates (family) —
نوع التركيب Surface Mount Surface Mount
Number of User I/O [DATA_NEEDED: number of user I/O for LG624 package] —
Block RAM Capacity [DATA_NEEDED: embedded SRAM bit capacity] —
حالة RoHS [DATA_NEEDED: RoHS status] —
System Gates — 250000 gates
Logic Cells (CLBs) — 2816
Maximum Toggle Frequency — 649 MHz
Process Technology — 0.15 um CMOS
Logic Family — CMOS
CLB Combinatorial Delay (max) — 0.930 ns
Package Type — CCGA-624 (ceramic column grid array, 624 pins)
Programming Technology — Antifuse (one-time programmable)
SEU Hardening — SEU-hardened registers, no external TMR required
SEU Immunity — Immune to single-event upsets to specified LET threshold; SEU rate < 10-10 errors/bit-day
Power-Up Behavior — Live at power-up (true single-chip)
Target Application — Space-flight systems

أوراق البيانات والموارد

تصفح جميع المنتجات إنشاء BOM طلب عرض سعر