ATMEGA3250V-8AU vs ATMEGA3250-16AU তুলনা
. বিস্তৃত সাথে-সাথে তুলনা ATMEGA3250V-8AU নির্দিষ্ট Microchip Technology ও ATMEGA3250-16AU নির্দিষ্ট Microchip Technology. প্রধান বিশেষত্ব, বৈদ্যুতিক প্রাকৃতিক, প্যাকেজিং, জীবনচক্র অবস্থা, মূল্যাঙ্কন, ও পরিসীমা কোন অপশনটির কেন্দ্রীয় নির্ধারণ করুন
Microchip Technology
ATMEGA3250V-8AU - 8-bit AVR MCU 32KB 8MHz 100-TQFP | Microchip
ATMEGA3250V-8AU ✓ সক্রিয়Microchip Technology
ATMEGA3250-16AU - 8-bit AVR MCU 16MHz 32KB Flash | Microchip
ATMEGA3250-16AU ✓ সক্রিয়বিশিষ্টতা তুলনা
| পারামিটার | ATMEGA3250V-8AU | ATMEGA3250-16AU |
|---|---|---|
| ব্র্যান্ড | Microchip Technology | Microchip Technology |
| ক্যাটাগরি | Microcontrollers | Microcontrollers |
| লাইফসাইকেল স্ট্যাটাস | সক্রিয় | সক্রিয় |
| Core Processor | AVR | — |
| Core Size | 8-Bit | 8-bit |
| Max Clock Speed | 8 MHz | — |
| FLASH Program Memory | 32 KB (16K x 16) | — |
| EEPROM | 1 KB | 1 KB |
| SRAM | 2 KB | 2 KB |
| Supply Voltage Range | 1.8 V to 5.5 V | 4.5 V to 5.5 V |
| General Purpose I/O | 54 I/O lines (69 total I/O per family listing) | 54/69 I/O lines |
| ADC Resolution | 10-bit | — |
| Instructions | 131 powerful instructions, most single-cycle | 131 powerful instructions |
| Working Registers | 32 x 8-bit general purpose | — |
| Debug Interface | JTAG (on-chip debug and boundary scan) | — |
| প্যাকেজ | 100-TQFP (14 x 14 mm, 0.8 mm pitch) | 100-TQFP (14x14 mm), 0.80 mm pitch |
| মাউন্টিং টাইপ | Surface Mount | Surface Mount |
| Programming | ISP (In-System Programmable), ICSP via MPLAB SNAP | In-System Programmable (ISP) Flash with read-while-write |
| লাইফসাইকেল স্ট্যাটাস | Active | ACTIVE |
| অপারেটিং তাপমাত্রা | [DATA_NEEDED: operating temperature range] | -40C to +85C (industrial) |
| RoHS স্ট্যাটাস | [DATA_NEEDED: RoHS status] | — |
| Core Architecture | — | 8-bit AVR RISC |
| সর্বোচ্চ ক্লক ফ্রিকোয়েন্সি | — | 16 MHz |
| Flash Memory | — | 32 KB (16K x 16) |
| I/O Ports | — | 32 |
| Interfaces | — | USART, SPI, TWI (I2C), JTAG |
| Timers | — | Three flexible timer/counters with compare modes |
| Debug / Test | — | JTAG boundary-scan and on-chip debugging |