ATMEGA3250V-8AU vs ATMEGA3250-16AU موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از ATMEGA3250V-8AU بذریعہ Microchip Technology اور ATMEGA3250-16AU بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
ATMEGA3250V-8AU - 8-bit AVR MCU 32KB 8MHz 100-TQFP | Microchip
ATMEGA3250V-8AU ✓ فعالMicrochip Technology
ATMEGA3250-16AU - 8-bit AVR MCU 16MHz 32KB Flash | Microchip
ATMEGA3250-16AU ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | ATMEGA3250V-8AU | ATMEGA3250-16AU |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | Microcontrollers | Microcontrollers |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Core Processor | AVR | — |
| Core Size | 8-Bit | 8-bit |
| Max Clock Speed | 8 MHz | — |
| FLASH Program Memory | 32 KB (16K x 16) | — |
| EEPROM | 1 KB | 1 KB |
| SRAM | 2 KB | 2 KB |
| Supply Voltage Range | 1.8 V to 5.5 V | 4.5 V to 5.5 V |
| General Purpose I/O | 54 I/O lines (69 total I/O per family listing) | 54/69 I/O lines |
| ADC Resolution | 10-bit | — |
| Instructions | 131 powerful instructions, most single-cycle | 131 powerful instructions |
| Working Registers | 32 x 8-bit general purpose | — |
| Debug Interface | JTAG (on-chip debug and boundary scan) | — |
| پیکیج | 100-TQFP (14 x 14 mm, 0.8 mm pitch) | 100-TQFP (14x14 mm), 0.80 mm pitch |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| Programming | ISP (In-System Programmable), ICSP via MPLAB SNAP | In-System Programmable (ISP) Flash with read-while-write |
| لائف سائیکل کی حالت | Active | ACTIVE |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | [DATA_NEEDED: operating temperature range] | -40C to +85C (industrial) |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS status] | — |
| Core Architecture | — | 8-bit AVR RISC |
| زیادہ سے زیادہ کلاک فریکوئنسی | — | 16 MHz |
| Flash Memory | — | 32 KB (16K x 16) |
| I/O Ports | — | 32 |
| Interfaces | — | USART, SPI, TWI (I2C), JTAG |
| Timers | — | Three flexible timer/counters with compare modes |
| Debug / Test | — | JTAG boundary-scan and on-chip debugging |