EP1K30QC208-1N vs EP1K30QC208-1 Comparación

Comparación detallada lado a lado de EP1K30QC208-1N por Altera y EP1K30QC208-1 por Intel. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

Altera
EP1K30QC208-1N EP1K30QC208-1N - 30K-Gate ACEX 1K FPGA | Altera

EP1K30QC208-1N - 30K-Gate ACEX 1K FPGA | Altera

EP1K30QC208-1N Obsolete

Comparación de especificaciones

Parámetro EP1K30QC208-1N EP1K30QC208-1
Marca Altera Intel
Categoría FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Estado del ciclo de vida Obsolete Obsolete
Estado del stock In Stock In Stock
Precio unitario (USD) $29,88 $10,85
Device Family ACEX 1K ACEX-1K
Product Type FPGA (Field Programmable Gate Array) —
Number of Typical Gates 30000 —
Number of Logic Elements / Cells 1728 —
Number of LABs / CLBs 216 —
Total RAM Bits 24576 —
Number of User I/O 147 —
Tensión de alimentación 2.5 V —
Process Technology 0.22 um 2.5 V CMOS
Maximum Internal Frequency 250 MHz —
Package Type 208-BFQFP (208-pin PQFP) —
Package Code FQFP, square —
Terminal Form Gull wing —
Number of Terminals 208 —
Temperature Grade Commercial —
Lead-Free Finish (N-Suffix) Yes —
Tipo de montaje Surface Mount Surface Mount (gull-wing leads)
Estado RoHS [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] Compliant (lead-free)
REACH Status [DATA_NEEDED: REACH compliance status] —
Rango de temperatura de funcionamiento [DATA_NEEDED: exact operating temperature range] —
Moisture Sensitivity Level [DATA_NEEDED: MSL] —
Logic Elements (LEs) — 1,728
Equivalent Gates — 30,000
Logic Array Blocks (LABs) — 216
Embedded Memory (EAB) — 24,576 bits
Maximum User I/O — 147
Core Supply Voltage (VCCINT) — 2.5 V (2.375 V to 2.625 V)
Encapsulado — 208-BFQFP (Plastic Quad Flat Pack, PQFP208)
Terminal Pitch — 0.500 mm
Temperatura de funcionamiento — 0 °C to +70 °C (commercial)
Maximum Operating Frequency — up to 250 MHz (family typical)
Configuration Method — SRAM, in-system reconfigurable (volatile)
Boundary-Scan Test — JTAG IEEE 1149.1
I/O Voltage Support — 2.5 V / 3.3 V (multi-volt I/O)
Configuration Device Support — EPC2, EPC4, EPC8 Enhanced Configuration Devices

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