EP1K30TI144-2 vs EP1K30TI144-2N Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de EP1K30TI144-2 par Intel et EP1K30TI144-2N par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Comparaison des spécifications

Paramètre EP1K30TI144-2 EP1K30TI144-2N
Marque Intel Intel
Catégorie FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Statut du cycle de vie Obsolete Obsolete
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $13,85 $25,00
Family ACEX-1K —
Series EP1K30 ACEX-1K
Logic Elements / Cells 1728 1728
Total RAM Bits 24576 —
Number of Logic Array Blocks (LABs) 216 [DATA_NEEDED: LAB count]
Equivalent Gates 30,000 —
User I/O Count 102 —
Number of I/O Banks 4 —
Supply Voltage - Core 2.5 V (2.375 V min, 2.625 V max) —
Supply Voltage - I/O 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V (multiVolt) —
Maximum Internal Frequency 200 MHz —
Process Technology 0.22 µm CMOS, SRAM-based 0.22 µm CMOS SRAM
Embedded Memory Type Dual-port EAB (Embedded Array Block) —
Boîtier 144-LQFP (TQFP), 22 mm × 22 mm, 0.5 mm pitch 144-pin LQFP
Température de fonctionnement -40 °C to +85 °C (Industrial, "I" suffix) —
Speed Grade -2 (mid-tier) -2
Configuration Method SRAM, requires external configuration PROM (EPC) —
Programming Interface JTAG (IEEE 1149.1) / IEEE 1532 ISP —
Type de montage Surface Mount Surface Mount
Statut RoHS [DATA_NEEDED: RoHS compliance - legacy part] Compliant (per Utmel product note)
Manufacturer — Intel (formerly Altera)
Typical Gate Count — 30,000 gates
Embedded Memory (RAM bits) — 24,576 bits
Maximum User I/O — 102
Number of Embedded Array Blocks (EABs) — [DATA_NEEDED: EAB count]
Core Voltage (VCCINT) — 2.5 V
I/O Voltage (VCCIO) — 2.5 V / 3.3 V
Operating Temperature Grade — Industrial
Plage de température de fonctionnement — -40 °C to +100 °C ambient
Lead Pitch — 0.5 mm
Configuration Interface — JTAG (IEEE 1149.1), serial passive/active
Niveau MSL — [DATA_NEEDED: MSL rating]

Fiches techniques et ressources

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