EP1K30TI144-2N vs EP1K30TI144-2 Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de EP1K30TI144-2N par Intel et EP1K30TI144-2 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Comparaison des spécifications

Paramètre EP1K30TI144-2N EP1K30TI144-2
Marque Intel Intel
Catégorie FPGA & CPLD FPGA & CPLD
Statut du cycle de vie Obsolete Obsolete
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $25,00 $13,85
Series ACEX-1K EP1K30
Manufacturer Intel (formerly Altera) —
Logic Elements / Cells 1728 1728
Typical Gate Count 30,000 gates —
Embedded Memory (RAM bits) 24,576 bits —
Maximum User I/O 102 —
Number of Logic Array Blocks (LABs) [DATA_NEEDED: LAB count] 216
Number of Embedded Array Blocks (EABs) [DATA_NEEDED: EAB count] —
Core Voltage (VCCINT) 2.5 V —
I/O Voltage (VCCIO) 2.5 V / 3.3 V —
Process Technology 0.22 µm CMOS SRAM 0.22 µm CMOS, SRAM-based
Speed Grade -2 -2 (mid-tier)
Operating Temperature Grade Industrial —
Plage de température de fonctionnement -40 °C to +100 °C ambient —
Boîtier 144-pin LQFP 144-LQFP (TQFP), 22 mm × 22 mm, 0.5 mm pitch
Lead Pitch 0.5 mm —
Type de montage Surface Mount Surface Mount
Configuration Interface JTAG (IEEE 1149.1), serial passive/active —
Statut RoHS Compliant (per Utmel product note) [DATA_NEEDED: RoHS compliance - legacy part]
Niveau MSL [DATA_NEEDED: MSL rating] —
Family — ACEX-1K
Total RAM Bits — 24576
Equivalent Gates — 30,000
User I/O Count — 102
Number of I/O Banks — 4
Supply Voltage - Core — 2.5 V (2.375 V min, 2.625 V max)
Supply Voltage - I/O — 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V (multiVolt)
Maximum Internal Frequency — 200 MHz
Embedded Memory Type — Dual-port EAB (Embedded Array Block)
Température de fonctionnement — -40 °C to +85 °C (Industrial, "I" suffix)
Configuration Method — SRAM, requires external configuration PROM (EPC)
Programming Interface — JTAG (IEEE 1149.1) / IEEE 1532 ISP

Fiches techniques et ressources

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