EP610ILI-12 vs EP610IDC-10 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EP610ILI-12 par Altera et EP610IDC-10 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EP610ILI-12 | EP610IDC-10 |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Intel |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | NRND | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $9,75 | $8,85 |
| Family | Classic EPLD (EP610) | — |
| Usable Gates | 300 | — |
| Macro Cells | 16 | — |
| Speed Grade (tpd) | 12 ns | — |
| Supply Voltage (Vcc) | 5 V (4.75 V to 5.25 V) | — |
| Supply Voltage (Vpp) | [DATA_NEEDED: Vpp programming voltage] | — |
| Operating Frequency (max) | 83.3 MHz | — |
| Logic Elements | [DATA_NEEDED: exact LE count] | — |
| User I/O Pins | [DATA_NEEDED: I/O pin count] | — |
| Dedicated Inputs | 4 | 4 |
| Technology | CMOS EPROM | CMOS, UV-erasable (windowed ceramic) |
| Température de fonctionnement | -40C to +85C (industrial grade) | — |
| Boîtier | 28-pin PLCC (J-Lead) | — |
| Type de montage | Surface Mount | Through-hole |
| Programmable Security Bit | Yes | — |
| TTL Compatibility | 100 TTL emulation | — |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: RoHS status of CDIP-10 variant] |
| Niveau MSL | [DATA_NEEDED: MSL rating] | — |
| Device Family | — | Altera Classic EPLD |
| Logic Capacity | — | 300 usable gates |
| Macrocell Count | — | 16 macrocells |
| Pin-to-Pin Logic Delay (tpd) | — | 10 ns |
| Maximum Counter Frequency (fCNT) | — | 100 MHz |
| Supply Voltage (VCC) | — | 5 V (nominal) |
| I/O Logic Compatibility | — | 100% TTL emulation |
| Package Type | — | 24-pin Ceramic DIP (CDIP) |
| I/O Pins | — | 20 |
| Plage de température de fonctionnement | — | 0 °C to +70 °C (commercial) |
| Programmable Interconnect | — | Yes (on-chip) |
| In-System Programmability | — | Yes (via MAX+PLUS II) |
| Boundary-Scan Test | — | Yes (per device documentation) |