EPF6016ATI144-2N vs EPF6016ATC144-2 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPF6016ATI144-2N par Altera et EPF6016ATC144-2 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPF6016ATI144-2N | EPF6016ATC144-2 |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Intel |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | Actif |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $17,30 | $13,85 |
| Family | FLEX 6000 | OptiFLEX architecture |
| Logic Elements (LEs) | 1,320 | — |
| Typical Gates | 16,000 | 16,000 |
| Maximum Gates | 24,000 | — |
| Maximum Internal Frequency | 166.67 MHz | — |
| Technology Node | 0.42 µm CMOS | — |
| User I/O Pins | 117 | — |
| Dedicated Inputs | 4 | — |
| Core Voltage (VCCINT) | 3.3 V (3.0 V – 3.6 V) | — |
| I/O Voltage (VCCIO) | 3.3 V (5.0 V tolerant inputs supported) | — |
| Boîtier | 144-pin TQFP (TQ144, 22 mm × 22 mm) | 144-pin LQFP (LFQFP) |
| Operating Temperature (Industrial, -2 speed grade) | -40 °C to +100 °C | — |
| Type de montage | Surface Mount | Surface Mount |
| Lead Pitch | 0.500 mm | — |
| Programming Interface | JTAG (IEEE 1149.1) / Altera ByteBlaster | JTAG (IEEE 1149.1) |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: not specified in verified data] |
| Manufacturer | — | Intel (formerly Altera) |
| Series | — | FLEX 6000 |
| Device Type | — | FPGA - Field Programmable Gate Array |
| Maximum Logic Elements | — | 24,000 |
| Logic Elements (LE) | — | 1,320 |
| Logic Array Blocks (LAB) | — | 132 (10 LEs each) |
| User I/Os | — | 117 |
| Process Technology | — | 0.30 µm CMOS SRAM |
| Configuration Memory | — | SRAM (volatile) |
| Température de fonctionnement | — | 0 °C to +85 °C (commercial) |
| Tension d'alimentation | — | [DATA_NEEDED: core and I/O supply rails] |
| Lead-Free | — | [DATA_NEEDED: not specified in verified data] |