EPM3032ALC44-4 vs EPM3032ALC44-10N Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPM3032ALC44-4 par Altera et EPM3032ALC44-10N par Altera. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPM3032ALC44-4 | EPM3032ALC44-10N |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Altera |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | NRND |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $1,10 | $0,94 |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Macrocells | 32 | 32 |
| Logic Array Blocks (LABs) | 2 | 2 |
| User I/O Pins | 34 | 34 |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | 4.5 ns | — |
| Maximum Counter Frequency | 227.3 MHz | — |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 3.3 V | — |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | 3.3 V (MultiVolt: 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V compatible) | — |
| Usable Gates | 600 to 10,000 (MAX 3000A family range) | — |
| Boîtier | 44-pin PLCC (J-Lead) | 44-pin PLCC (J-Lead, surface mount) |
| Température de fonctionnement | 0°C to +70°C (Commercial) | [DATA_NEEDED: industrial/commercial range] |
| Technology | CMOS EEPROM-based | CMOS EEPROM-based |
| In-System Programmability (ISP) | Yes, IEEE Std. 1532 compliant | — |
| Boundary-Scan Test | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) | — |
| Programming Interface | JTAG (ByteBlaster / MasterBlaster) | — |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: compliant or non-compliant] |
| Type de montage | Surface Mount (PLCC J-Lead) | Surface Mount |
| Product Type | — | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Logic Gates | — | 600 gates |
| Propagation Delay (tPD) | — | 10 ns |
| Internal fMAX | — | 103.1 MHz |
| Supply Voltage (VCCINT) | — | 3.3 V |
| I/O Voltage (VCCIO) | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V (MultiVolt I/O) |
| In-System Programmability | — | Yes, via IEEE 1149.1 JTAG |
| ISP Standard Compliance | — | IEEE Std. 1532 |
| Boundary-Scan Test (BST) | — | Yes, IEEE 1149.1 compliant |