K4A4G165WD-BCTD vs K4A4G165WD-BCPB Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de K4A4G165WD-BCTD par Samsung Electronics et K4A4G165WD-BCPB par Samsung Electronics. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | K4A4G165WD-BCTD | K4A4G165WD-BCPB |
|---|---|---|
| Marque | Samsung Electronics | Samsung Electronics |
| Catégorie | Memory ICs | Memory ICs |
| Statut du cycle de vie | Actif | Actif |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $19,00 | $3,10 |
| Type de mémoire | DDR4 SDRAM | DDR4 SDRAM |
| Density | 4 Gbit | 4 Gbit |
| Organisation de la mémoire | 256M x 16 | 256M x 16 |
| Débit de données | 2666 Mbps/pin (-BCTD speed grade) | 2133 MT/s |
| Supply Voltage (VDD) | 1.2 V | — |
| Core Supply (VPP) | 2.5 V | — |
| Interface | SSTL-12 | DDR4 (synchronous, source-synchronous strobe) |
| Data Mask | Yes (DM per byte lane) | — |
| Bank Architecture | 16 banks / 4 bank groups | 4 bank groups x 4 banks |
| Boîtier | 96-ball FBGA | FBGA-96 |
| Type de montage | Surface Mount (BGA) | Surface Mount |
| Température de fonctionnement | 0C to +85C (commercial) | [DATA_NEEDED: operating temperature range] |
| On-Die Termination | Dynamic ODT | — |
| ZQ Calibration | Yes (external RZQ resistor) | — |
| CRC / CA Parity | CRC read/write support | — |
| Reset | Asynchronous reset (RESET_n) | — |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status] | Compliant (lead-free suffix) |
| Core Voltage | — | 1.2 V |
| Die Generation | — | D-die |
| Latence CAS | — | [DATA_NEEDED: CAS Latency at 2133 speed bin] |
| Burst Length | — | 8 (BL8, fixed/chop) |
| Pb-Free | — | Yes (per Samsung part-numbering suffix) |
| Refresh | — | Self-refresh supported (TCSR per DDR4 standard features) |