EPF8282ATC100-3 vs EPF8282ATI100-3NGZ तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना EPF8282ATC100-3 द्वारा Intel और EPF8282ATI100-3NGZ द्वारा Altera. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
विशेषता तुलना
| पैरामीटर | EPF8282ATC100-3 | EPF8282ATI100-3NGZ |
|---|---|---|
| ब्रांड | Intel | Altera |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | Obsolete | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 |
| Logic Cells (LEs) | 208 | — |
| Usable Gates | 2,500 | ~2,500 |
| Typical Gates Equivalent | 12,000 | — |
| Maximum User I/O | 78 | — |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | 26 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 6 | — |
| Total RAM Bits | 12 Kbits | — |
| Process Technology | 0.42 micron CMOS SRAM | 0.42 µm CMOS |
| Supply Voltage (Core) | 5 V | — |
| MultiVolt I/O Support | 3.3 V / 5 V | — |
| Maximum Frequency | 125 MHz | — |
| Speed Grade | -3 | -3 |
| पैकेज | 100-pin TQFP (100-TQFP) | 100-pin TQFP |
| Configuration Method | SRAM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, microprocessor | — |
| Operating Temperature (Commercial) | 0 C to +70 C | — |
| In-Circuit Reconfigurable | Yes (ICR) | — |
| Boundary Scan | JTAG IEEE 1149.1 | — |
| Logic Elements / Cells | — | 208 |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 26 |
| User I/Os | — | 78 |
| Configuration Memory | — | SRAM (volatile, requires external load) |
| Core Supply Voltage | — | 5 V |
| Maximum Toggle Frequency | — | 125 MHz |
| माउंटिंग प्रकार | — | Surface Mount |
| ऑपरेटिंग तापमान | — | -40 °C to +85 °C (Industrial) |
| JTAG Boundary Scan | — | Yes (IEEE 1149.1) |
| RoHS स्थिति | — | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Lead-Free / Pb-Free | — | [DATA_NEEDED: lead-free status] |