EPM570T100C4N vs EPM570GT100C5N Comparação
Comparação detalhada lado a lado de EPM570T100C4N por Intel e EPM570GT100C5N por Intel. Compare especificações principais, parâmetros elétricos, encapsulamento, status do ciclo de vida, preços e disponibilidade para determinar o melhor componente para os requisitos do seu projeto.
Comparação de especificações
| Parâmetro | EPM570T100C4N | EPM570GT100C5N |
|---|---|---|
| Marca | Intel | Intel |
| Categoria | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Status do ciclo de vida | Ativo | Ativo |
| Status do estoque | In Stock | In Stock |
| Preço unitário (USD) | $9,05 | $11,05 |
| Family | MAX II | — |
| Series | MAX® II | MAX II |
| Logic Elements / Blocks | 570 | — |
| Macrocells | 440 | — |
| Number of User I/O | 76 | — |
| Propagation Delay (tpd) | 5.4 ns (speed grade 4) | — |
| Maximum Internal Frequency | 247.5 MHz | — |
| Process Technology | 0.18 µm | — |
| Supply Voltage - Internal | 2.5 V / 3.3 V | — |
| Programmable Type | In-System Programmable (Flash, non-volatile) | — |
| User Flash Memory | 8 Kbits | — |
| Temperatura de operação | 0 °C to 85 °C (TJ, commercial) | 0C to +85C (Commercial) |
| Tipo de montagem | Surface Mount | Surface Mount |
| Encapsulamento / Caixa | 100-TQFP (14 x 14 mm) | — |
| Supplier Device Package | 100-TQFP | — |
| Configuration Memory | Internal flash (no external PROM required) | — |
| JTAG / ISP | IEEE 1149.1 compliant | — |
| I/O Bank Voltages | 1.5 V / 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V (MultiVolt) | — |
| Product Status | Active | — |
| Status RoHS | Compliant | Compliant |
| Logic Elements | — | 570 |
| Equivalent Macrocells | — | 440 |
| User I/O | — | 76 |
| LABs | — | 36 |
| Maximum Frequency | — | 304 MHz |
| Pin-to-Pin Delay | — | [DATA_NEEDED: tPD value] |
| User Flash Memory (UFM) | — | 8 Kbit |
| Operating Supply Voltage (VCCINT) | — | 2.5 V / 3.3 V |
| I/O Standards Supported | — | 1.5 V, 1.8 V, 2.5 V, 3.3 V LVTTL/LVCMOS |
| Encapsulamento | — | TQFP-100 |
| Programmability | — | Flash-based, non-volatile (ISP via JTAG) |
| JTAG Support | — | IEEE 1149.1 boundary scan |