EPF8820ARC208-3N vs EPF8820ARC208-3 موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPF8820ARC208-3N بذریعہ Altera اور EPF8820ARC208-3 بذریعہ Intel. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Altera
EPF8820ARC208-3N - FLEX 8000 FPGA, 672 LEs, 125MHz, 208-RQFP | Altera
EPF8820ARC208-3N ObsoleteIntel
EPF8820ARC208-3 - FLEX 8000 FPGA, 8K Gates, 672 Cells | Intel / Altera
EPF8820ARC208-3 Obsoleteخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPF8820ARC208-3N | EPF8820ARC208-3 |
|---|---|---|
| برانڈ | Altera | Intel |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | Obsolete |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 (EPF8820) |
| Device Type | Field Programmable Gate Array (FPGA) | — |
| Usable Gates | 8,000 | 8,000 |
| Logic Elements | 672 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 672 / 10 ≈ 67 LABs | — |
| FlipFlops | 152 | — |
| Maximum Operating Frequency | 125 MHz | 125 MHz |
| Propagation Delay | 5 ns (speed grade -3) | — |
| Process Technology | 0.42 µm CMOS | 0.42 µm CMOS |
| Supply Voltage (VCCINT) | 4.75 V to 5.25 V (5 V nominal) | — |
| User I/O Voltage | 3.3 V or 5 V (selectable) | — |
| User I/O Count | 152 | — |
| پیکیج | 208-pin RQFP / BFQFP Exposed Pad (28x28 mm) | — |
| Configuration Memory | SRAM (volatile, external configuration device required) | SRAM (volatile) |
| Configuration Devices | EPC1, EPC1213, EPC1064, EPC1441 | — |
| In-System Reconfigurability | Yes (ICR via configuration device or controller) | — |
| JTAG Support | Yes (boundary-scan + configuration) | — |
| Speed Grade | -3 | — |
| RoHS اسٹیٹس | unknown | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Series | — | FLEX 8000 |
| Logic Cells / Elements | — | 672 |
| Registers | — | 152 |
| Supply Voltage (VCC) | — | 4.75 V to 5.25 V |
| پیکیج / کیس | — | 208-BFQFP Exposed Pad (208-RQFP, 28x28 mm) |
| Supplier Device Package | — | 208-RQFP (28x28) |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | — | Surface Mount |
| Packaging | — | Tray |
| آپریٹنگ درجہ حرارت رینج | — | [DATA_NEEDED: operating temperature range] |
| In-Circuit Reconfigurability (ICR) | — | Yes (via external configuration devices) |
| Boundary-Scan Test | — | JTAG (IEEE 1149.1) |
| I/O Tolerance | — | 3.3 V / 5 V |
| Clock Networks | — | 4 dedicated low-skew global clocks |
| Lead-Free / Finish | — | [DATA_NEEDED: lead-free finish] |