EPM3064ALC44-10N vs EPM3064ATC44-10NAF موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPM3064ALC44-10N بذریعہ Altera اور EPM3064ATC44-10NAF بذریعہ Altera. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Altera
EPM3064ALC44-10N - MAX 3000A CPLD, 64 Macrocells, 34 I/O | Intel / Altera
EPM3064ALC44-10N ObsoleteAltera
EPM3064ATC44-10NAF - 64-Macrocell MAX 3000A CPLD, 10ns TQFP-44 | Intel
EPM3064ATC44-10NAF Nrndخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPM3064ALC44-10N | EPM3064ATC44-10NAF |
|---|---|---|
| برانڈ | Altera | Altera |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | NRND |
| Product Family | MAX 3000A | — |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macrocells | 64 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 4 | — |
| User I/O Pins | 34 | — |
| Usable Gates | 1,250 | 1250 |
| Propagation Delay (tPD) | 10 ns | — |
| Maximum Counter Frequency | 227.3 MHz | — |
| Supply Voltage (VCCINT) | 3.0 V to 3.6 V | 3.0 V to 3.6 V |
| I/O Bank Voltage (VCCIO) | 3.0 V to 3.6 V (MultiVolt) | — |
| Configuration Memory | CMOS EEPROM | — |
| In-System Programmability | Yes (IEEE 1149.1 JTAG, IEEE 1532 compliant) | — |
| پیکیج | 44-pin PLCC (LC44) | TQFP-44 (10x10 mm) |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount (PLCC socket compatible) | Surface Mount |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | [DATA_NEEDED: commercial / industrial grade] | [DATA_NEEDED: industrial/commercial grade] |
| RoHS اسٹیٹس | Compliant | Compliant |
| Open-Drain Output Option | Yes (per I/O pin) | — |
| Output Slew-Rate Control | Programmable | — |
| Series | — | MAX 3000A |
| Macro Cells | — | 64 |
| Logic Elements / LABs | — | 4 LABs (16 macrocells per LAB) |
| Number of I/O Pins | — | 34 |
| Propagation Delay (tPD, max) | — | 10 ns |
| I/O Voltage Tolerance | — | Multi-voltage (3.3 V / 2.5 V / 1.8 V capable) |
| Programmable Technology | — | EEPROM (non-volatile) |
| In-System Programmable | — | Yes (IEEE Std. 1532 compliant) |
| Boundary-Scan Test | — | Yes (IEEE Std. 1149.1 JTAG) |
| Pin-Locking | — | Yes |
| Lead Finish | — | Lead-free (NiPdAu, AF suffix) |
| Configuration Memory Cycles | — | 100 erase/program cycles |