EPM3064ATC44-7N vs EPM3064ATC44-10N موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPM3064ATC44-7N بذریعہ Altera اور EPM3064ATC44-10N بذریعہ Altera. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
خصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPM3064ATC44-7N | EPM3064ATC44-10N |
|---|---|---|
| برانڈ | Altera | Altera |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | فعال |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macro Cells | 64 | 64 |
| Logic Array Blocks | 2 | — |
| Usable Gates | 1,250 | 1250 |
| User I/O Pins | 34 | 34 |
| پنز کی تعداد | 44 | — |
| Speed Grade | -7 (7.5 ns pin-to-pin delay) | — |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | 7.5 ns | 10 ns |
| Maximum Counter Frequency | 192.3 MHz (-7 grade) | 192.3 MHz |
| Supply Voltage (VCC) | 3.3 V | — |
| MultiVolt I/O | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V | — |
| Programmability | EEPROM, in-system programmable (ISP) | — |
| JTAG Interface | IEEE Std. 1149.1 compliant | — |
| ISP Standard | IEEE Std. 1532 compliant | — |
| Boundary-Scan Test (BST) | Built-in, JTAG-driven | — |
| پیکیج | 44-pin TQFP | TQFP-44 (10x10 mm) |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | 0°C to +85°C (commercial) | 0C to +70C (commercial) |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| RoHS اسٹیٹس | Compliant | Compliant |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 4 |
| Supply Voltage (VCCINT) | — | 3.3 V |
| I/O Standard | — | MultiVolt (mixed 1.5 V / 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V) |
| Configuration Memory | — | EEPROM (non-volatile) |
| In-System Programming | — | IEEE Std. 1532 compliant |
| Boundary-Scan Test | — | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) compliant |
| Pin-Locking | — | Yes (across design iterations) |