EPM3064ATI44-10N vs EPM3064ATC44-7N موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPM3064ATI44-10N بذریعہ Altera اور EPM3064ATC44-7N بذریعہ Altera. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
خصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPM3064ATI44-10N | EPM3064ATC44-7N |
|---|---|---|
| برانڈ | Altera | Altera |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | Obsolete |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Product Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | — |
| Macrocells | 64 | — |
| Usable Gates | 1250 | 1,250 |
| User I/Os | 34 | — |
| Dedicated Inputs | 4 | — |
| Logic Blocks | 4 | — |
| Pin-to-Pin Delay | 10 ns (-10 speed grade) | — |
| Maximum Frequency (fMAX) | 100 MHz | — |
| Programmable Type | In-System Programmable (EEPROM) | — |
| ISP Interface | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) | — |
| ISP Standard Compliance | IEEE Std. 1532 | — |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 3.3 V | — |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | 3.3 V or 2.5 V (MultiVolt) | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | -40C to +85C (Industrial, "N" suffix) | 0°C to +85°C (commercial) |
| پیکیج | 44-pin TQFP | 44-pin TQFP |
| Process Technology | CMOS EEPROM | — |
| Boundary-Scan Test | Built-in (JTAG) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| Lead-Free Status | Contains Lead (per digchip datasheet excerpt) | — |
| RoHS اسٹیٹس | Non-Compliant (per digchip datasheet excerpt) | Compliant |
| Device Type | — | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macro Cells | — | 64 |
| Logic Array Blocks | — | 2 |
| User I/O Pins | — | 34 |
| پنز کی تعداد | — | 44 |
| Speed Grade | — | -7 (7.5 ns pin-to-pin delay) |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Maximum Counter Frequency | — | 192.3 MHz (-7 grade) |
| Supply Voltage (VCC) | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V |
| Programmability | — | EEPROM, in-system programmable (ISP) |
| JTAG Interface | — | IEEE Std. 1149.1 compliant |
| ISP Standard | — | IEEE Std. 1532 compliant |
| Boundary-Scan Test (BST) | — | Built-in, JTAG-driven |