RTAX2000SL-1CGS624E vs RTAX250S-CG624E موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX2000SL-1CGS624E بذریعہ Microchip Technology اور RTAX250S-CG624E بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX2000SL-1CGS624E - 2M-Gate Rad-Tolerant FPGA CGA624 | Microchip
RTAX2000SL-1CGS624E ✓ فعالMicrochip Technology
RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX250S-CG624E ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX2000SL-1CGS624E | RTAX250S-CG624E |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Family | RTAX-S/SL Radiation-Tolerant FPGA | RTAX-S radiation-tolerant FPGA |
| Equivalent System Gates | 2000000 | — |
| Additional ASIC Gates | 250000 | — |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 21504 | — |
| Technology | CMOS, 0.15 um | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | 1.5 V |
| Maximum Combinatorial Performance | 649 MHz | — |
| Speed Grade | -1 | — |
| پیکیج | CBGA624 / CGA-624 Ceramic Column Grid Array | — |
| Package Material | Ceramic | — |
| Programming Technology | Anti-fuse, one-time programmable, live at power-up | Antifuse (one-time programmable) |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic | — |
| Radiation Tolerance | Radiation-tolerant (space-flight qualified family) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| آپریٹنگ درجہ حرارت رینج | [DATA_NEEDED: operating temperature range] | — |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS status] | — |
| Number of I/Os | [DATA_NEEDED: number of user I/Os] | — |
| System Gates | — | 250000 gates |
| Logic Cells (CLBs) | — | 2816 |
| Maximum Toggle Frequency | — | 649 MHz |
| Process Technology | — | 0.15 um CMOS |
| Logic Family | — | CMOS |
| CLB Combinatorial Delay (max) | — | 0.930 ns |
| Package Type | — | CCGA-624 (ceramic column grid array, 624 pins) |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | — | -55C to +125C |
| SEU Hardening | — | SEU-hardened registers, no external TMR required |
| SEU Immunity | — | Immune to single-event upsets to specified LET threshold; SEU rate < 10-10 errors/bit-day |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (true single-chip) |
| Target Application | — | Space-flight systems |