RTAX4000SL-1CG1272V vs RTAX4000SL-CG1272E موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX4000SL-1CG1272V بذریعہ Microchip Technology اور RTAX4000SL-CG1272E بذریعہ Microsemi. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX4000SL-1CG1272V - 4M-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX4000SL-1CG1272V ✓ فعالMicrosemi
RTAX4000SL-CG1272E - 4M-Gate Rad-Tolerant FPGA CCGA-1272 | Microsemi
RTAX4000SL-CG1272E ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX4000SL-1CG1272V | RTAX4000SL-CG1272E |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microsemi |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Equivalent System Gates | 4,000,000 gates | — |
| Logic Cells | 40,320 | 40320 |
| Family | RTAX-S/SL Radiation-Tolerant FPGA | RTAX-SL Radiation-Tolerant FPGA |
| Core Supply Voltage (Nominal) | 1.5 V | — |
| Core Supply Voltage Range | 1.425 V to 1.575 V | — |
| Logic Technology | CMOS, antifuse (one-time programmable) | — |
| Package Type | CGA-1272 ceramic column grid array | — |
| پن کی تعداد | 1272 | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | -55C to +125C | -55C to +125C |
| SEU Hardening | SEU-hardened registers, no external TMR required | — |
| SEU Rate | < 10-10 errors/bit-day | < 10-10 errors/bit-day |
| Configuration | Live at power-up, single-chip (no external config device) | — |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic | — |
| Programmability Type | OTP (one-time programmable) | — |
| Speed Grade | -1 | — |
| Qualification Grade | V (space flight / radiation-tolerant) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS Status] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| System Gates | — | 4,000,000 |
| Sequential Logic Cells | — | 60480 |
| Process Technology | — | 0.15 um CMOS |
| Core Supply Voltage | — | 1.5 V |
| Logic Family | — | CMOS |
| پیکیج | — | 1272-Pin CCGA (Ceramic Column Grid Array) |
| SEU Immunity | — | Immune to single-event upsets to LETTH MeVcm2/mg |
| SEU-Hardened Registers | — | Yes (eliminates need for TMR) |
| Programming Technology | — | Antifuse (one-time programmable) |
| Power-Up Operation | — | Live at power-up (single chip) |
| Radiation Environment | — | Space flight (radiation-tolerant) |