M1AFS600-1FGG256 vs AFS600-1FG256I مقارنة
مقارنة تفصيلية جنبًا إلى جنب لـ M1AFS600-1FGG256 بواسطة Microchip Technology و AFS600-1FG256I بواسطة Microchip Technology. قارن المواصفات الرئيسية والمعلمات الكهربائية والتغليف وحالة دورة الحياة والأسعار والتوافر لتحديد أفضل مكوّن لمتطلبات تصميمك.
Microchip Technology
M1AFS600-1FGG256 - Fusion FPGA, Cortex-M1, 600K Gates | Microchip
M1AFS600-1FGG256 ✓ نشطMicrochip Technology
AFS600-1FG256I - 600K-Gate Fusion Mixed-Signal FPGA | Microchip
AFS600-1FG256I ✓ نشطمقارنة المواصفات
| المعامل | M1AFS600-1FGG256 | AFS600-1FG256I |
|---|---|---|
| العلامة التجارية | Microchip Technology | Microchip Technology |
| الفئة | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| حالة دورة الحياة | نشط | نشط |
| Family | Fusion Mixed-Signal FPGA | — |
| Processor Core | ARM Cortex-M1 (hard core) | — |
| System Gates | 600000 | 600,000 gates |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 13824 | — |
| Flip-Flops | 110592 | — |
| User I/O | 119 | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | — |
| Process Technology | 130 nm CMOS, flash-based | 130 nm CMOS |
| Configuration Memory | Flash (non-volatile, live at power-up) | Nonvolatile flash |
| درجة حرارة التشغيل | 0C to +85C | 0°C to 85°C |
| العلبة | 256-ball LBGA (FGG256), 17x17x1.7 mm | 256-LBGA, 1 mm pitch |
| نوع التركيب | Surface Mount | — |
| Analog Features | Configurable analog blocks, clock generation and management | — |
| حالة RoHS | Compliant | — |
| Packaging | Tray | — |
| Device Type | — | Fusion mixed-signal field-programmable gate array (FPGA) |
| Logic Family | — | Flash-based CMOS |
| I/O Count | — | 119 I/O |
| جهد التغذية | — | 1.5 V |
| Metal Layers | — | 7 layers |
| عدد الأطراف | — | 256 pins |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (LAPU) |
| Integrated Resources | — | Configurable analog, large flash memory blocks, clock generation and management |
| Programmable Logic | — | High-performance flash-based programmable logic |
| RoHS Compliance | — | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| REACH Compliance | — | [DATA_NEEDED: REACH compliance status] |
| AEC-Q100 Qualification | — | [DATA_NEEDED: AEC-Q100 qualification status] |
| Junction Test Temperature | — | 100°C |