M1AFS600-1FGG256 vs AFS600-1FG256I השוואה
השוואה מפורטת זה לצד זה של M1AFS600-1FGG256 מאת Microchip Technology ו AFS600-1FG256I מאת Microchip Technology. השווה מפרטים עיקריים, פרמטרים חשמליים, אריזה, סטטוס מחזור חיים, תמחור וזמינות כדי לקבוע את הרכיב הטוב ביותר לדרישות העיצוב שלך.
Microchip Technology
M1AFS600-1FGG256 - Fusion FPGA, Cortex-M1, 600K Gates | Microchip
M1AFS600-1FGG256 ✓ פעילMicrochip Technology
AFS600-1FG256I - 600K-Gate Fusion Mixed-Signal FPGA | Microchip
AFS600-1FG256I ✓ פעילהשוואת מפרטים
| פרמטר | M1AFS600-1FGG256 | AFS600-1FG256I |
|---|---|---|
| מותג | Microchip Technology | Microchip Technology |
| קטגוריה | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| סטטוס מחזור חיים | פעיל | פעיל |
| Family | Fusion Mixed-Signal FPGA | — |
| Processor Core | ARM Cortex-M1 (hard core) | — |
| System Gates | 600000 | 600,000 gates |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 13824 | — |
| Flip-Flops | 110592 | — |
| User I/O | 119 | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | — |
| Process Technology | 130 nm CMOS, flash-based | 130 nm CMOS |
| Configuration Memory | Flash (non-volatile, live at power-up) | Nonvolatile flash |
| טמפרטורת פעולה | 0C to +85C | 0°C to 85°C |
| מארז | 256-ball LBGA (FGG256), 17x17x1.7 mm | 256-LBGA, 1 mm pitch |
| סוג הרכבה | Surface Mount | — |
| Analog Features | Configurable analog blocks, clock generation and management | — |
| סטטוס RoHS | Compliant | — |
| Packaging | Tray | — |
| Device Type | — | Fusion mixed-signal field-programmable gate array (FPGA) |
| Logic Family | — | Flash-based CMOS |
| I/O Count | — | 119 I/O |
| מתח אספקה | — | 1.5 V |
| Metal Layers | — | 7 layers |
| מספר פינים | — | 256 pins |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (LAPU) |
| Integrated Resources | — | Configurable analog, large flash memory blocks, clock generation and management |
| Programmable Logic | — | High-performance flash-based programmable logic |
| RoHS Compliance | — | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| REACH Compliance | — | [DATA_NEEDED: REACH compliance status] |
| AEC-Q100 Qualification | — | [DATA_NEEDED: AEC-Q100 qualification status] |
| Junction Test Temperature | — | 100°C |