M1AFS600-1FGG256 vs AFS600-1FG256I तुलना
विस्तृत दोनों ओर की तुलना M1AFS600-1FGG256 द्वारा Microchip Technology और AFS600-1FG256I द्वारा Microchip Technology. मुख्य विशेषताओं, इलेक्ट्रिकल पैरामीटर, पैकेजिंग, चक्र स्थिति, मूल्यांकन और उपलब्धता को तुलना करके अपनी डिजाइन की आवश्यकताओं के लिए सबसे अच्छा घटक निर्धारित करें。
Microchip Technology
M1AFS600-1FGG256 - Fusion FPGA, Cortex-M1, 600K Gates | Microchip
M1AFS600-1FGG256 ✓ सक्रियMicrochip Technology
AFS600-1FG256I - 600K-Gate Fusion Mixed-Signal FPGA | Microchip
AFS600-1FG256I ✓ सक्रियविशेषता तुलना
| पैरामीटर | M1AFS600-1FGG256 | AFS600-1FG256I |
|---|---|---|
| ब्रांड | Microchip Technology | Microchip Technology |
| श्रेणी | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| लाइफसाइकिल स्थिति | सक्रिय | सक्रिय |
| Family | Fusion Mixed-Signal FPGA | — |
| Processor Core | ARM Cortex-M1 (hard core) | — |
| System Gates | 600000 | 600,000 gates |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 13824 | — |
| Flip-Flops | 110592 | — |
| User I/O | 119 | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | — |
| Process Technology | 130 nm CMOS, flash-based | 130 nm CMOS |
| Configuration Memory | Flash (non-volatile, live at power-up) | Nonvolatile flash |
| ऑपरेटिंग तापमान | 0C to +85C | 0°C to 85°C |
| पैकेज | 256-ball LBGA (FGG256), 17x17x1.7 mm | 256-LBGA, 1 mm pitch |
| माउंटिंग प्रकार | Surface Mount | — |
| Analog Features | Configurable analog blocks, clock generation and management | — |
| RoHS स्थिति | Compliant | — |
| Packaging | Tray | — |
| Device Type | — | Fusion mixed-signal field-programmable gate array (FPGA) |
| Logic Family | — | Flash-based CMOS |
| I/O Count | — | 119 I/O |
| सप्लाई वोल्टेज | — | 1.5 V |
| Metal Layers | — | 7 layers |
| पिन काउंट | — | 256 pins |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (LAPU) |
| Integrated Resources | — | Configurable analog, large flash memory blocks, clock generation and management |
| Programmable Logic | — | High-performance flash-based programmable logic |
| RoHS Compliance | — | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] |
| REACH Compliance | — | [DATA_NEEDED: REACH compliance status] |
| AEC-Q100 Qualification | — | [DATA_NEEDED: AEC-Q100 qualification status] |
| Junction Test Temperature | — | 100°C |