MPX5700DP vs MPX5700GP1117 Comparación

Comparación detallada lado a lado de MPX5700DP por NXP Semiconductors y MPX5700GP1117 por NXP Semiconductors. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

NXP Semiconductors
MPX5700DP MPX5700DP - 700 kPa Differential Pressure Sensor, 6-SIP | NXP

MPX5700DP - 700 kPa Differential Pressure Sensor, 6-SIP | NXP

MPX5700DP ✓ Activo
NXP Semiconductors
MPX5700GP1117 MPX5700GP1117 - 700 kPa Integrated Pressure Sensor | NXP

MPX5700GP1117 - 700 kPa Integrated Pressure Sensor | NXP

MPX5700GP1117 ✓ Activo

Comparación de especificaciones

Parámetro MPX5700DP MPX5700GP1117
Marca NXP Semiconductors NXP Semiconductors
Categoría Pressure Sensors Pressure Sensors
Estado del ciclo de vida Activo Activo
Pressure Type Differential Vented Gauge
Operating Pressure Range 0 kPa to 700 kPa (0 psi to 101.5 psi) 0 kPa to 700 kPa (0 to 101.53 PSI)
Maximum Overload Pressure [DATA_NEEDED: maximum overload pressure] 2100 kPa
Tipo de salida Analog voltage, ratiometric Analog voltage, ratiometric
Rango de tensión de salida 0.2 V to 4.7 V 0.2 V to 4.7 V (at 5 V supply)
Full-Scale Span (VFSS) 4.5 V (typical) —
Tensión de alimentación 4.75 V to 5.25 V (5 V typical) 4.75 V to 5.25 V (5 V typical)
Corriente de alimentación [DATA_NEEDED: supply current] 10 mA typical
Accuracy ±2.5% VFSS (0°C to 85°C) ±2.5% (0°C to 85°C)
Temperatura de funcionamiento -40°C to +125°C -40°C to +125°C
Response Time 1 ms (typical) 1 ms typical
Port Style Dual Male 0.19" (4.93 mm) Tube, Horizontal GP - vertical port with 4.93 mm (0.19 in) tube
Encapsulado / Carcasa 6-SIP Module (Case 867C-05) —
Tipo de montaje Through-hole, vertical SIP Through-Hole (vertical port)
Technology Piezoresistive MEMS, bipolar signal conditioning —
Estado RoHS [DATA_NEEDED: RoHS status] Compliant
Compensated Temperature — 0°C to 85°C
Encapsulado — 6-SIP through-hole module
Signal Conditioning — On-chip amplified, temperature compensated
Calibration — On-chip laser-trimmed

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