EPF8282ATC100-4 vs EPF8282ATC100-3 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPF8282ATC100-4 par Intel et EPF8282ATC100-3 par Intel. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPF8282ATC100-4 | EPF8282ATC100-3 |
|---|---|---|
| Marque | Intel | Intel |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $9,95 | $10,25 |
| Series | FLEX 8000 | — |
| Family | Flex 8000 FPGA | FLEX 8000 |
| Number of Logic Elements/Cells | 208 | — |
| Number of LABs/CLBs | 26 | — |
| Total RAM Bits | [DATA_NEEDED: total embedded memory bits] | 12 Kbits |
| Number of I/O | 78 | — |
| Usable Gates | 2500 | 2,500 |
| Tension d'alimentation | 5 V | — |
| I/O Voltage (MultiVolt) | 3.3 V or 5.0 V | — |
| Température de fonctionnement | 0 C to 70 C | — |
| Type de montage | Surface Mount | — |
| Boîtier / Format | 100-TQFP (LFQFP, S-PQFP-G100) | — |
| Nombre de broches | 100 | — |
| Terminal Pitch | 0.500 mm | — |
| Logic Family | CMOS | — |
| Configuration Method | SRAM (serial or parallel EPROM) | SRAM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, microprocessor |
| Configuration Devices Supported | EPC1, EPC1064, EPC1213, EPC1441 | — |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status - obsolete part] | — |
| Temperature Grade | Commercial | — |
| Niveau MSL | [DATA_NEEDED: MSL level] | — |
| Logic Cells (LEs) | — | 208 |
| Typical Gates Equivalent | — | 12,000 |
| Maximum User I/O | — | 78 |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | — | 26 |
| Embedded Array Blocks (EABs) | — | 6 |
| Process Technology | — | 0.42 micron CMOS SRAM |
| Supply Voltage (Core) | — | 5 V |
| MultiVolt I/O Support | — | 3.3 V / 5 V |
| Maximum Frequency | — | 125 MHz |
| Speed Grade | — | -3 |
| Boîtier | — | 100-pin TQFP (100-TQFP) |
| Operating Temperature (Commercial) | — | 0 C to +70 C |
| In-Circuit Reconfigurable | — | Yes (ICR) |
| Boundary Scan | — | JTAG IEEE 1149.1 |