EPF8282ATC100-4 vs EPF8282ATC100-3 Comparação
Comparação detalhada lado a lado de EPF8282ATC100-4 por Intel e EPF8282ATC100-3 por Intel. Compare especificações principais, parâmetros elétricos, encapsulamento, status do ciclo de vida, preços e disponibilidade para determinar o melhor componente para os requisitos do seu projeto.
Comparação de especificações
| Parâmetro | EPF8282ATC100-4 | EPF8282ATC100-3 |
|---|---|---|
| Marca | Intel | Intel |
| Categoria | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Status do ciclo de vida | Obsolete | Obsolete |
| Status do estoque | In Stock | In Stock |
| Preço unitário (USD) | $9,95 | $10,25 |
| Series | FLEX 8000 | — |
| Family | Flex 8000 FPGA | FLEX 8000 |
| Number of Logic Elements/Cells | 208 | — |
| Number of LABs/CLBs | 26 | — |
| Total RAM Bits | [DATA_NEEDED: total embedded memory bits] | 12 Kbits |
| Number of I/O | 78 | — |
| Usable Gates | 2500 | 2,500 |
| Tensão de alimentação | 5 V | — |
| I/O Voltage (MultiVolt) | 3.3 V or 5.0 V | — |
| Temperatura de operação | 0 C to 70 C | — |
| Tipo de montagem | Surface Mount | — |
| Encapsulamento / Caixa | 100-TQFP (LFQFP, S-PQFP-G100) | — |
| Contagem de pinos | 100 | — |
| Terminal Pitch | 0.500 mm | — |
| Logic Family | CMOS | — |
| Configuration Method | SRAM (serial or parallel EPROM) | SRAM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, microprocessor |
| Configuration Devices Supported | EPC1, EPC1064, EPC1213, EPC1441 | — |
| Status RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS status - obsolete part] | — |
| Temperature Grade | Commercial | — |
| Nível MSL | [DATA_NEEDED: MSL level] | — |
| Logic Cells (LEs) | — | 208 |
| Typical Gates Equivalent | — | 12,000 |
| Maximum User I/O | — | 78 |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | — | 26 |
| Embedded Array Blocks (EABs) | — | 6 |
| Process Technology | — | 0.42 micron CMOS SRAM |
| Supply Voltage (Core) | — | 5 V |
| MultiVolt I/O Support | — | 3.3 V / 5 V |
| Maximum Frequency | — | 125 MHz |
| Speed Grade | — | -3 |
| Encapsulamento | — | 100-pin TQFP (100-TQFP) |
| Operating Temperature (Commercial) | — | 0 C to +70 C |
| In-Circuit Reconfigurable | — | Yes (ICR) |
| Boundary Scan | — | JTAG IEEE 1149.1 |