EPM3256AFC256-7 vs EPM3256ATC144-7 Comparaison
Comparaison détaillée côte à côte de EPM3256AFC256-7 par Altera et EPM3256ATC144-7 par Altera. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.
Comparaison des spécifications
| Paramètre | EPM3256AFC256-7 | EPM3256ATC144-7 |
|---|---|---|
| Marque | Altera | Altera |
| Catégorie | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Statut du cycle de vie | Obsolete | Obsolete |
| Statut du stock | In Stock | In Stock |
| Prix unitaire (USD) | $12,10 | $17,06 |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | — |
| Macro Cells | 256 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 16 | — |
| Usable Gates | 10,000 | — |
| User I/Os | 161 | 116 |
| Pin-to-Pin Logic Delay | 4.5 ns (max) | — |
| Counter Frequency | 227.3 MHz (max) | — |
| Propagation Delay (tpd) | 10 ns | — |
| Core Voltage | 3.3 V | — |
| I/O Compatibility | 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V (MultiVolt I/O) | — |
| Process Technology | CMOS EEPROM, 0.30 µm | — |
| In-System Programmability | IEEE Std. 1532-compliant 3.3-V ISP | — |
| Boundary-Scan Test | JTAG (IEEE 1149.1) | — |
| Boîtier | FBGA-256 (FineLine BGA), 256 balls | TQFP-144 (LFQFP, gull-wing) |
| Température de fonctionnement | 0 °C to 70 °C (Commercial) | 0C to +70C (Commercial) |
| Speed Grade | -7 | -7 |
| Statut RoHS | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | — |
| Macrocells | — | 256 |
| Logic Elements / Gates | — | 600 to 10,000 usable gates |
| Propagation Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Counter Frequency (fCNT) | — | 227.3 MHz |
| Supply Voltage - Core (VCCINT) | — | 3.3 V |
| Supply Voltage - I/O (VCCIO) | — | 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V |
| In-System Programming | — | IEEE Std. 1532 compliant, 3.3 V ISP |
| Nombre de broches | — | 144 |
| Type de montage | — | Surface Mount |
| PCI Compliance | — | PCI Local Bus Specification Revision 2.2 (speed grades -4 to -10) |
| JTAG Support | — | IEEE Std. 1149.1 boundary-scan |