MT41K128M16JT-125:K vs K4B4G1646E-BYK000 Comparaison

Comparaison détaillée côte à côte de MT41K128M16JT-125:K par Micron Technology et K4B4G1646E-BYK000 par Samsung Electronics. Comparez les spécifications clés, les paramètres électriques, le conditionnement, le statut de cycle de vie, les prix et la disponibilité pour déterminer le meilleur composant pour vos exigences de conception.

Micron Technology
MT41K128M16JT-125:K MT41K128M16JT-125:K - 2Gb DDR3L SDRAM 1600MT/s | Micron Technology

MT41K128M16JT-125:K - 2Gb DDR3L SDRAM 1600MT/s | Micron Technology

MT41K128M16JT-125:K ✓ Actif
Samsung Electronics
K4B4G1646E-BYK000 K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 ✓ Actif

Comparaison des spécifications

Paramètre MT41K128M16JT-125:K K4B4G1646E-BYK000
Marque Micron Technology Samsung Electronics
Catégorie Memory ICs Memory ICs
Statut du cycle de vie Actif Actif
Statut du stock In Stock In Stock
Prix unitaire (USD) $9,75 $0,56
Type de mémoire DDR3L SDRAM DDR3L SDRAM
Memory Capacity 2 Gbit —
Organisation de la mémoire 128M x 16 256M x 16
Interface Parallel Parallel
Clock Frequency 800 MHz (1600 MT/s data rate) 800 MHz
Access Time (Clock Cycle) 13.75 ns —
Supply Voltage (VDD) 1.35 V (1.283 V to 1.45 V) 1.35 V (DDR3L), 1.5 V compatible (DDR3)
Prefetch Architecture 8n-bit —
Boîtier 96-FBGA (8x14 mm) 96-FBGA (BYK)
Type de montage Surface Mount Surface Mount
Température de fonctionnement 0C to +95C [DATA_NEEDED: operating temperature range]
Self Refresh Auto self-refresh —
Write Leveling Supported —
Data Mask Supported —
On-Die Termination Dynamic ODT supported —
Asynchronous Reset Supported —
Statut RoHS Compliant [DATA_NEEDED: RoHS status]
Taille de mémoire — 4 Gbit
Speed Grade — DDR3-1600 (1.25 ns clock cycle)
CAS Latency (CL) — [DATA_NEEDED: CAS latency - 1.25 ns CL grade indicates CL11 but not explicitly stated in provided data]
Number of Banks — [DATA_NEEDED: bank count]
Die Process — Samsung E-die
Caractéristiques — Auto precharge, asynchronous reset, ZQ calibration, dynamic on-chip termination, data mask
Access Time — 1.25 ns

Fiches techniques et ressources

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