EP1K100FC484-3N vs EP1K100FI484-2N 比較
詳細な並列比較: EP1K100FC484-3N メーカー: Intel および EP1K100FI484-2N メーカー: Intel。主要仕様、電気的特性、パッケージ、ライフサイクルステータス、価格、在庫状況を比較して、設計要件に最適な部品を判断してください。
仕様比較
| パラメータ | EP1K100FC484-3N | EP1K100FI484-2N |
|---|---|---|
| ブランド | Intel | Intel |
| カテゴリ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| ライフサイクル状態 | ラストバイ | Obsolete |
| 在庫状況 | In Stock | In Stock |
| 単価（USD） | $65.10 | $65.00 |
| Family | ACEX 1K | — |
| Logic Elements | 4,992 | — |
| Typical Gate Count | 100,000 gates | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 624 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 12 | — |
| Total RAM Bits | 49,152 | 49,152 |
| User I/Os | 333 | — |
| Operating Voltage (VCCINT) | 2.5 V | — |
| Process Technology | 0.22 µm CMOS | — |
| Internal Operating Frequency | up to 200 MHz | — |
| Speed Grade | -3 | -2 |
| パッケージ | 484-ball FBGA | — |
| 実装タイプ | Surface Mount | Surface Mount |
| Configuration Method | Passive Serial, JTAG, PPA | SRAM - Serial / JTAG |
| I/O Standards Supported | LVTTL, LVCMOS, PCI, 2.5V/3.3V/5V multiVolt I/O | — |
| Operating Temperature (Commercial) | 0 °C to +70 °C | — |
| Boundary-Scan Test | IEEE 1149.1 (JTAG) | — |
| RoHS ステータス | [DATA_NEEDED: RoHS status] | non_compliant (contains lead, BGA) |
| Series | — | ACEX-1K |
| Manufacturer | — | Intel (formerly Altera) |
| Logic Elements / Cells | — | 4,992 |
| Number of Gates | — | 257,000 (typical 100,000) |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | — | 624 |
| Number of I/O | — | 333 |
| Number of Embedded Array Blocks (EABs) | — | 12 |
| Supply Voltage - Core (VCCINT) | — | 2.375 V to 2.625 V (2.5 V nominal) |
| 動作温度 | — | -40C to +85C (Industrial) |
| パッケージ / ケース | — | 484-FBGA (FineLine BGA, 23 mm x 23 mm) |
| Supplier Device Package | — | 484-FBGA |