EP1K100FC484-3N vs EP1K100FI484-2 비교
다음의 상세 나란히 비교: EP1K100FC484-3N 제조: Intel 및 EP1K100FI484-2 제조: Intel. 주요 사양, 전기적 파라미터, 패키징, 수명 주기 상태, 가격 및 재고를 비교하여 설계 요구 사항에 가장 적합한 부품을 결정하십시오.
사양 비교
| 파라미터 | EP1K100FC484-3N | EP1K100FI484-2 |
|---|---|---|
| 브랜드 | Intel | Intel |
| 카테고리 | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| 수명 주기 상태 | 최종 구매 | Obsolete |
| 재고 상태 | In Stock | In Stock |
| 단가 (USD) | $65.10 | $118.00 |
| Family | ACEX 1K | ACEX-1K Programmable Logic Device Family |
| Logic Elements | 4,992 | — |
| Typical Gate Count | 100,000 gates | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 624 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 12 | — |
| Total RAM Bits | 49,152 | 49,152 |
| User I/Os | 333 | — |
| Operating Voltage (VCCINT) | 2.5 V | — |
| Process Technology | 0.22 µm CMOS | CMOS, 2.5 V |
| Internal Operating Frequency | up to 200 MHz | — |
| Speed Grade | -3 | -2 (mid) |
| 패키지 | 484-ball FBGA | 484-BBGA (FineLine BGA) |
| 실장 유형 | Surface Mount | Surface Mount |
| Configuration Method | Passive Serial, JTAG, PPA | — |
| I/O Standards Supported | LVTTL, LVCMOS, PCI, 2.5V/3.3V/5V multiVolt I/O | — |
| Operating Temperature (Commercial) | 0 °C to +70 °C | — |
| Boundary-Scan Test | IEEE 1149.1 (JTAG) | — |
| RoHS 상태 | [DATA_NEEDED: RoHS status] | unknown |
| Series | — | ACEX-1K |
| Typical Gates | — | 100,000 |
| Logic Elements (Cells) | — | 4,992 |
| Number of I/O | — | 333 |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | — | [DATA_NEEDED: LAB count] |
| Number of Embedded Array Blocks (EABs) | — | [DATA_NEEDED: EAB count] |
| 동작 공급 전압 | — | 2.5 V |
| Maximum Operating Frequency | — | 250 MHz |
| 동작 온도 범위 | — | -40C to +85C (Industrial) |
| Configuration Interface | — | JTAG (IEEE 1149.1) + serial/parallel |