EPF8282ATI100-3N vs EPF8282ATC100-3 비교
다음의 상세 나란히 비교: EPF8282ATI100-3N 제조: Altera 및 EPF8282ATC100-3 제조: Intel. 주요 사양, 전기적 파라미터, 패키징, 수명 주기 상태, 가격 및 재고를 비교하여 설계 요구 사항에 가장 적합한 부품을 결정하십시오.
사양 비교
| 파라미터 | EPF8282ATI100-3N | EPF8282ATC100-3 |
|---|---|---|
| 브랜드 | Altera | Intel |
| 카테고리 | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| 수명 주기 상태 | Obsolete | Obsolete |
| 재고 상태 | In Stock | In Stock |
| 단가 (USD) | $10.95 | $10.25 |
| Family | FLEX 8000 | FLEX 8000 |
| Logic Cells | 208 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 26 | — |
| Usable Gates | 2,500 | 2,500 |
| User I/Os | 78 | — |
| Maximum Operating Frequency | 125 MHz | — |
| Process Technology | 0.42 um CMOS SRAM | 0.42 micron CMOS SRAM |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 5 V | — |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | 3.3 V or 5.0 V | — |
| 패키지 | 100-pin TQFP | 100-pin TQFP (100-TQFP) |
| 실장 유형 | Surface Mount | — |
| 동작 온도 | 0C to +70C | — |
| Configuration Memory | SRAM (volatile) | — |
| Configuration Devices Supported | EPC1, EPC1064, EPC1213, EPC1441 | — |
| In-Circuit Reconfigurability | Yes (ICR) | — |
| Boundary-Scan Support | IEEE 1149.1 JTAG | — |
| RoHS 상태 | [DATA_NEEDED: RoHS status] | — |
| Logic Cells (LEs) | — | 208 |
| Typical Gates Equivalent | — | 12,000 |
| Maximum User I/O | — | 78 |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | — | 26 |
| Embedded Array Blocks (EABs) | — | 6 |
| Total RAM Bits | — | 12 Kbits |
| Supply Voltage (Core) | — | 5 V |
| MultiVolt I/O Support | — | 3.3 V / 5 V |
| Maximum Frequency | — | 125 MHz |
| Speed Grade | — | -3 |
| Configuration Method | — | SRAM, EPC1/EPC1064/EPC1213/EPC1441, microprocessor |
| Operating Temperature (Commercial) | — | 0 C to +70 C |
| In-Circuit Reconfigurable | — | Yes (ICR) |
| Boundary Scan | — | JTAG IEEE 1149.1 |