EPM3512AFI256-7 vs EPM3512AFI256-10 비교
다음의 상세 나란히 비교: EPM3512AFI256-7 제조: Altera 및 EPM3512AFI256-10 제조: Intel. 주요 사양, 전기적 파라미터, 패키징, 수명 주기 상태, 가격 및 재고를 비교하여 설계 요구 사항에 가장 적합한 부품을 결정하십시오.
사양 비교
| 파라미터 | EPM3512AFI256-7 | EPM3512AFI256-10 |
|---|---|---|
| 브랜드 | Altera | Intel |
| 카테고리 | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| 수명 주기 상태 | Obsolete | 활성 |
| 재고 상태 | In Stock | In Stock |
| 단가 (USD) | $15.95 | $18.75 |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | — |
| Macrocells | 512 | 512 |
| Usable Gates | 10,000 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 32 (16 macrocells each) | — |
| User I/O Pins | 208 | — |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | 7.5 ns | — |
| Maximum Operating Frequency | [DATA_NEEDED: fMAX value] | — |
| Supply Voltage VCCINT | 3.3 V | — |
| MultiVolt I/O Voltage | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant | — |
| Process Technology | 0.30 µm CMOS EEPROM | CMOS EEPROM |
| 패키지 | 256-ball FBGA (Fine-Pitch BGA), 17 mm × 17 mm, 1.0 mm pitch | FBGA-256 (FineLine BGA, 256 balls) |
| In-System Programmability | IEEE Std. 1532 compliant via JTAG | Yes, IEEE Std. 1532 (3.3 V ISP) |
| Boundary-Scan Test | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) | — |
| Operating Temperature (Industrial) | -40 °C to +85 °C | — |
| RoHS 상태 | [DATA_NEEDED: confirm from data] | [DATA_NEEDED: rohs_status] |
| 실장 유형 | Surface Mount (BGA) | — |
| Product Type | — | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Equivalent Gates | — | 10,000 |
| User I/Os | — | 208 |
| Pin-to-Pin Logic Delay (tPD) | — | 4.5 ns |
| Maximum Counter Frequency | — | 227.3 MHz |
| Propagation Delay | — | 7.5 ns (max, per chipdig summary) |
| Core Voltage | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O Levels | — | 5.0 V / 3.3 V / 2.5 V |
| 동작 온도 | — | 0C to +70C (commercial) |
| Logic Family | — | CMOS |
| 공급 전압 | — | 3.3 V (core); MultiVolt I/O to 5.0 V |