EP1K30QC208-1 vs EP1K30QC208-2N موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EP1K30QC208-1 بذریعہ Intel اور EP1K30QC208-2N بذریعہ Intel. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
خصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EP1K30QC208-1 | EP1K30QC208-2N |
|---|---|---|
| برانڈ | Intel | Intel |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | Obsolete |
| Device Family | ACEX-1K | — |
| Logic Elements (LEs) | 1,728 | — |
| Equivalent Gates | 30,000 | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 216 | — |
| Embedded Memory (EAB) | 24,576 bits | — |
| Maximum User I/O | 147 | — |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 2.5 V (2.375 V to 2.625 V) | 2.5 V |
| پیکیج | 208-BFQFP (Plastic Quad Flat Pack, PQFP208) | — |
| Terminal Pitch | 0.500 mm | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount (gull-wing leads) | Surface Mount |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | 0 °C to +70 °C (commercial) | 0°C to +70°C (commercial) |
| Maximum Operating Frequency | up to 250 MHz (family typical) | — |
| Process Technology | 2.5 V CMOS | — |
| Configuration Method | SRAM, in-system reconfigurable (volatile) | SRAM (volatile) - serial/parallel/JTAG |
| Boundary-Scan Test | JTAG IEEE 1149.1 | — |
| I/O Voltage Support | 2.5 V / 3.3 V (multi-volt I/O) | — |
| Configuration Device Support | EPC2, EPC4, EPC8 Enhanced Configuration Devices | — |
| RoHS اسٹیٹس | Compliant (lead-free) | unknown (legacy part, pre-RoHS-era design) |
| Series | — | ACEX 1K |
| Family | — | ACEX 1K |
| Logic Elements / Cells | — | 1,728 |
| Typical Gates | — | 30,000 |
| Total RAM Bits | — | 24,576 (24 Kbit embedded memory) |
| Number of LABs/CLBs | — | 216 |
| Number of I/O | — | 147 |
| Number of Gates | — | 30,000 |
| Technology Node | — | 0.22 µm CMOS |
| Operating Frequency (max) | — | 200 MHz |
| پیکیج / کیس | — | 208-BFQFP (PQFP) |