EPF10K200SRC240-2 vs EPF10K200SRC240-3N موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPF10K200SRC240-2 بذریعہ Intel اور EPF10K200SRC240-3N بذریعہ Intel. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
خصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPF10K200SRC240-2 | EPF10K200SRC240-3N |
|---|---|---|
| برانڈ | Intel | Intel |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | Obsolete | Obsolete |
| Series | FLEX 10KS | — |
| Family | FLEX 10KS (FLEX 10KE/10KA generation) | FLEX 10KE |
| Number of Logic Elements (LEs) | 9984 | — |
| Number of Logic Array Blocks (LABs) | 1248 | — |
| Total RAM Bits | 98304 | — |
| Number of User I/Os | 182 | — |
| Number of Gates | 513000 | — |
| Core Supply Voltage | 2.375 V to 2.625 V (nominal 2.5 V) | 2.5 V |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | 0C to +70C (Commercial, TA) | 0 °C to +70 °C (Commercial) |
| پیکیج / کیس | 240-BFQFP Exposed Pad (240-RQFP, 32x32 mm) | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| Terminal Form | GULL WING | — |
| Number of Terminals | 240 | — |
| Speed Grade | -2 (~80 MHz internal, typical) | -3 (commercial) |
| Configuration Interface | IEEE 1149.1 JTAG + Altera EPC EEPROM | — |
| Process Technology | 0.42 micrometer CMOS SRAM | 0.22 µm CMOS SRAM |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS compliance status] | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Typical System Gates | — | 200,000 |
| Logic Elements (LEs) | — | 9,984 |
| Maximum Logic Elements | — | 9,984 |
| Embedded Array Blocks (EABs) | — | 24 |
| Maximum User RAM Bits | — | 98,304 |
| Logic Array Blocks (LABs) | — | 1,248 |
| User I/Os | — | 470 (effective); 182 user pins per RQFP-240 with the rest assigned to dedicated functions |
| Propagation Delay (tPD) | — | 0.40 ns |
| Internal Operating Frequency | — | 166.67 MHz |
| MultiVolt I/O Support | — | 2.5 V and 3.3 V interfaces |
| پیکیج | — | 240-pin RQFP (Power QFP) with exposed pad, 34.6 x 34.6 mm, 0.5 mm pitch |
| JTAG Support | — | IEEE Std 1149.1 Boundary-Scan (contributes up to 31,250 gates of test logic) |
| Configuration Method | — | SRAM-based; requires external configuration device (e.g., EPC2) for power-up loading |