EPF10K20RC240-3 vs EPF10K200SRC240-3N موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPF10K20RC240-3 بذریعہ Intel اور EPF10K200SRC240-3N بذریعہ Intel. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
خصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPF10K20RC240-3 | EPF10K200SRC240-3N |
|---|---|---|
| برانڈ | Intel | Intel |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | NRND | Obsolete |
| Family | FLEX 10K | FLEX 10KE |
| Series | FLEX-10K® | — |
| Typical Gates | 20,000 | — |
| Logic Elements (LEs) | 12,288 | 9,984 |
| Logic Array Blocks (LABs) | 189 | 1,248 |
| Flip-Flops | 1,152 | — |
| Embedded Array Blocks (EABs) | 6 (2 Kbit each) | 24 |
| Total EAB RAM | 12 Kbits | — |
| User I/Os | 470 (max per package) | 470 (effective); 182 user pins per RQFP-240 with the rest assigned to dedicated functions |
| پیکیج | 240-BFQFP Exposed Pad (RQFP-240) | 240-pin RQFP (Power QFP) with exposed pad, 34.6 x 34.6 mm, 0.5 mm pitch |
| Process Technology | 0.42 µm CMOS, 5 metal layers | 0.22 µm CMOS SRAM |
| Core Supply Voltage (VCCINT) | 5 V | — |
| I/O Supply Voltage (VCCIO) | 3.3 V or 5 V tolerant | — |
| Propagation Delay (tpd) | 0.4 ns | — |
| Maximum Internal Frequency | 125 MHz | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | 0 °C to +70 °C (Commercial) | 0 °C to +70 °C (Commercial) |
| Speed Grade | -3 | -3 (commercial) |
| Configuration Interface | JTAG (IEEE 1149.1) + serial configuration PROM | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| MSL لیول | [DATA_NEEDED: MSL rating] | — |
| RoHS اسٹیٹس | unknown (legacy Altera part, likely non-RoHS) | [DATA_NEEDED: RoHS status] |
| Programming | SRAM-based, in-system reconfigurable | — |
| Typical System Gates | — | 200,000 |
| Maximum Logic Elements | — | 9,984 |
| Maximum User RAM Bits | — | 98,304 |
| Propagation Delay (tPD) | — | 0.40 ns |
| Internal Operating Frequency | — | 166.67 MHz |
| Core Supply Voltage | — | 2.5 V |
| MultiVolt I/O Support | — | 2.5 V and 3.3 V interfaces |
| JTAG Support | — | IEEE Std 1149.1 Boundary-Scan (contributes up to 31,250 gates of test logic) |
| Configuration Method | — | SRAM-based; requires external configuration device (e.g., EPC2) for power-up loading |