EPM3512AFI256-7N vs EPM3512AFI256-7 موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از EPM3512AFI256-7N بذریعہ Altera اور EPM3512AFI256-7 بذریعہ Altera. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Altera
EPM3512AFI256-7N - MAX 3000A CPLD, 512 Macrocells | Intel / Altera
EPM3512AFI256-7N ⚠ آخری بار خریداریخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | EPM3512AFI256-7N | EPM3512AFI256-7 |
|---|---|---|
| برانڈ | Altera | Altera |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | آخری بار خریداری | Obsolete |
| Family | MAX 3000A | MAX 3000A |
| Device Logic Elements / Macrocells | 512 macrocells | — |
| Typical Usable Gates | 10,000 gates | — |
| Logic Array Blocks (LABs) | 16 | 32 (16 macrocells each) |
| Maximum User I/O Pins | [DATA_NEEDED: user I/O count] | — |
| Maximum Operating Frequency (fMAX) | 116.3 MHz | — |
| Pin-to-Pin Delay (tPD, speed grade -7) | approximately 7.5 ns | — |
| Supply Voltage (VCCINT) | 3.3 V | — |
| MultiVolt I/O Levels | 2.5 V / 3.3 V / 5 V mixed | — |
| Configuration Memory | Non-volatile EEPROM | — |
| Programming Interface | IEEE 1149.1 JTAG (in-system programmable) | — |
| پیکیج | 256-ball FBGA | 256-ball FBGA (Fine-Pitch BGA), 17 mm × 17 mm, 1.0 mm pitch |
| آپریٹنگ درجہ حرارت رینج | -40C to +85C (industrial) | — |
| Lead-Free / RoHS | Yes ('N' suffix, lead-free) | — |
| Design Software | Quartus II (legacy MAX 3000A support) | — |
| Speed Grade | -7 | — |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount (BGA) | Surface Mount (BGA) |
| Device Type | — | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macrocells | — | 512 |
| Usable Gates | — | 10,000 |
| User I/O Pins | — | 208 |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Maximum Operating Frequency | — | [DATA_NEEDED: fMAX value] |
| Supply Voltage VCCINT | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O Voltage | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V / 5.0 V tolerant |
| Process Technology | — | 0.30 µm CMOS EEPROM |
| In-System Programmability | — | IEEE Std. 1532 compliant via JTAG |
| Boundary-Scan Test | — | IEEE Std. 1149.1 (JTAG) |
| Operating Temperature (Industrial) | — | -40 °C to +85 °C |
| RoHS اسٹیٹس | — | [DATA_NEEDED: confirm from data] |