RTAX4000D-1CQ352B vs RTAX4000SL-CQ352B موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX4000D-1CQ352B بذریعہ Microchip Technology اور RTAX4000SL-CQ352B بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX4000D-1CQ352B - 4M-Gate Rad-Tolerant FPGA 1.5V | Microchip
RTAX4000D-1CQ352B ✓ فعالMicrochip Technology
RTAX4000SL-CQ352B - 4M-Gate Rad-Tolerant FPGA CQFP-352 | Microchip
RTAX4000SL-CQ352B ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX4000D-1CQ352B | RTAX4000SL-CQ352B |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Family | RTAX-DSP Radiation-Tolerant FPGA | RTAX-SL (Radiation-Tolerant FPGAs) |
| Equivalent System Gates | 4000000 gates | 4,000,000 |
| Logic Cells | 55440 cells | 40,320 |
| Configurable Logic Blocks (CLBs) | 36960 CLBs | — |
| Core Supply Voltage (Nominal) | 1.5 V | — |
| Core Supply Voltage Range | 1.425 V to 1.575 V | — |
| Combinatorial CLB Delay (Max) | 0.99 ns | — |
| Process Technology | 0.15 um CMOS | 0.15 um |
| Programmability Type | Antifuse (OTP), live at power-up | — |
| Speed Grade | -1 | — |
| پیکیج | 352-pin Ceramic CQFP (CQ352) | 352-Pin CQFP |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| Technology | CMOS, Digital | — |
| Radiation Tolerance | Radiation-tolerant (space flight) | Radiation-tolerant (space flight qualified family) |
| Embedded SRAM | Yes (with built-in FIFO control logic) | — |
| Operating Temperature Bin | B | — |
| RoHS اسٹیٹس | unknown | [DATA_NEEDED: RoHS Status] |
| Core Voltage | — | 1.5 V |
| Packaging / Shipping | — | Box |
| Programmable Type | — | FPGA |
| Embedded Memory | — | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic |
| Clock Resources | — | Segmentable clocks, chip-wide highway routing |
| Arithmetic Support | — | Carry logic |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | — | [DATA_NEEDED: Operating Temperature] |
| I/O Voltage | — | [DATA_NEEDED: I/O Voltage] |
| Total Ionizing Dose (TID) | — | [DATA_NEEDED: TID Rating] |
| Single Event Latch-up Threshold | — | [DATA_NEEDED: SEL LET Threshold] |