RTAX4000SL-1CQ352EV vs RTAX4000SL-CQ352B موازنہ
تفصیلی ساتھ ساتھ موازنہ از RTAX4000SL-1CQ352EV بذریعہ Microchip Technology اور RTAX4000SL-CQ352B بذریعہ Microchip Technology. اہم خصوصیات، برقی پیرامیٹرز، پیکیجنگ، لائف سائیکل اسٹیٹس، قیمتوں اور دستیابی کا موازنہ کریں تاکہ آپ کی ڈیزائن ضروریات کے لیے بہترین کمپوننٹ کا تعین ہو سکے۔
Microchip Technology
RTAX4000SL-1CQ352EV - 4M Gate Rad-Tolerant FPGA 352-Pin CQFP | Microchip
RTAX4000SL-1CQ352EV ✓ فعالMicrochip Technology
RTAX4000SL-CQ352B - 4M-Gate Rad-Tolerant FPGA CQFP-352 | Microchip
RTAX4000SL-CQ352B ✓ فعالخصوصیات کا موازنہ
| پیرامیٹر | RTAX4000SL-1CQ352EV | RTAX4000SL-CQ352B |
|---|---|---|
| برانڈ | Microchip Technology | Microchip Technology |
| زمرہ | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| لائف سائیکل کی حالت | فعال | فعال |
| Family | RTAX-SL (Radiation-Tolerant FPGA) | RTAX-SL (Radiation-Tolerant FPGAs) |
| Equivalent System Gates | 4000000 | 4,000,000 |
| Logic Cells | 40320 | 40,320 |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | — |
| Process Technology | 0.15 um CMOS | 0.15 um |
| Speed Grade | 1 | — |
| پیکیج | 352-pin Ceramic CQFP (CQ352) | 352-Pin CQFP |
| JESD-30 Package Code | S-CQFP-F352 | — |
| Configuration Technology | Antifuse (live at power-up, single chip) | — |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic | Embedded SRAM with built-in FIFO control logic |
| Clock Resources | Segmentable clock conditioning circuits | Segmentable clocks, chip-wide highway routing |
| ماؤنٹنگ ٹائپ | Surface Mount | Surface Mount |
| Application Domain | Space-flight systems (radiation tolerant) | — |
| آپریٹنگ درجہ حرارت رینج | [DATA_NEEDED: operating temperature range] | — |
| I/O Count | [DATA_NEEDED: usable I/O count for CQ352] | — |
| RoHS اسٹیٹس | [DATA_NEEDED: RoHS status] | [DATA_NEEDED: RoHS Status] |
| Core Voltage | — | 1.5 V |
| Packaging / Shipping | — | Box |
| Programmable Type | — | FPGA |
| Radiation Tolerance | — | Radiation-tolerant (space flight qualified family) |
| Arithmetic Support | — | Carry logic |
| آپریٹنگ درجہ حرارت | — | [DATA_NEEDED: Operating Temperature] |
| I/O Voltage | — | [DATA_NEEDED: I/O Voltage] |
| Total Ionizing Dose (TID) | — | [DATA_NEEDED: TID Rating] |
| Single Event Latch-up Threshold | — | [DATA_NEEDED: SEL LET Threshold] |