RTAX250S-1CG624E vs RTAX250S-CG624E So sánh
So sánh chi tiết song song của RTAX250S-1CG624E bằng Microchip Technology và RTAX250S-CG624E bằng Microchip Technology. So sánh các thông số quan trọng, thông số điện tử, gói gọn, trạng thái vòng đời, giá cả và khả năng cung cấp để xác định linh kiện tốt nhất cho yêu cầu thiết kế của bạn.
Microchip Technology
RTAX250S-1CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA 624-CCGA | Microchip
RTAX250S-1CG624E ✓ Hoạt độngMicrochip Technology
RTAX250S-CG624E - 250K-Gate Rad-Tolerant FPGA | Microchip
RTAX250S-CG624E ✓ Hoạt độngSo sánh thông số kỹ thuật
| Tham số | RTAX250S-1CG624E | RTAX250S-CG624E |
|---|---|---|
| Thương hiệu | Microchip Technology | Microchip Technology |
| Danh mục | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| Trạng thái vòng đời | Hoạt động | Hoạt động |
| Family | RTAX-S Radiation-Tolerant FPGA | RTAX-S radiation-tolerant FPGA |
| Equivalent System Gates | 250,000 | — |
| Logic Cells | 2816 | — |
| Maximum Toggle Frequency | 649 MHz | 649 MHz |
| CLB Combinatorial Delay (Max) | 0.930 ns | — |
| Core Supply Voltage | 1.5 V | 1.5 V |
| Process Technology | 0.15 um CMOS antifuse | 0.15 um CMOS |
| Speed Grade | -1 (approximately 15% faster than standard) | — |
| Hộp | 624-pin Ceramic Column Grid Array (CCGA) | — |
| Nhiệt độ hoạt động | -55C to +125C | -55C to +125C |
| Configuration Type | One-time programmable antifuse, live at power-up | — |
| Logic Family | CMOS | CMOS |
| SEU Hardening | SEU-hardened registers, immune to single-event upsets | SEU-hardened registers, no external TMR required |
| Embedded Memory | Embedded SRAM with built-in FIFO control | — |
| Kiểu lắp đặt | Surface Mount | Surface Mount |
| Application Domain | Space flight / satellite systems | — |
| System Gates | — | 250000 gates |
| Logic Cells (CLBs) | — | 2816 |
| CLB Combinatorial Delay (max) | — | 0.930 ns |
| Package Type | — | CCGA-624 (ceramic column grid array, 624 pins) |
| Programming Technology | — | Antifuse (one-time programmable) |
| SEU Immunity | — | Immune to single-event upsets to specified LET threshold; SEU rate < 10-10 errors/bit-day |
| Power-Up Behavior | — | Live at power-up (true single-chip) |
| Target Application | — | Space-flight systems |