EPM3064ATC44-10NAF vs EPM3064ATC44-7N তুলনা
. বিস্তৃত সাথে-সাথে তুলনা EPM3064ATC44-10NAF নির্দিষ্ট Altera ও EPM3064ATC44-7N নির্দিষ্ট Altera. প্রধান বিশেষত্ব, বৈদ্যুতিক প্রাকৃতিক, প্যাকেজিং, জীবনচক্র অবস্থা, মূল্যাঙ্কন, ও পরিসীমা কোন অপশনটির কেন্দ্রীয় নির্ধারণ করুন
Altera
EPM3064ATC44-10NAF - 64-Macrocell MAX 3000A CPLD, 10ns TQFP-44 | Intel
EPM3064ATC44-10NAF Nrndবিশিষ্টতা তুলনা
| পারামিটার | EPM3064ATC44-10NAF | EPM3064ATC44-7N |
|---|---|---|
| ব্র্যান্ড | Altera | Altera |
| ক্যাটাগরি | FPGA & CPLD | FPGA & CPLD |
| লাইফসাইকেল স্ট্যাটাস | NRND | Obsolete |
| Series | MAX 3000A | — |
| Device Type | CPLD (Complex Programmable Logic Device) | CPLD (Complex Programmable Logic Device) |
| Macro Cells | 64 | 64 |
| Logic Elements / LABs | 4 LABs (16 macrocells per LAB) | — |
| Usable Gates | 1250 | 1,250 |
| Number of I/O Pins | 34 | — |
| Propagation Delay (tPD, max) | 10 ns | — |
| Supply Voltage (VCCINT) | 3.0 V to 3.6 V | — |
| I/O Voltage Tolerance | Multi-voltage (3.3 V / 2.5 V / 1.8 V capable) | — |
| Programmable Technology | EEPROM (non-volatile) | — |
| In-System Programmable | Yes (IEEE Std. 1532 compliant) | — |
| Boundary-Scan Test | Yes (IEEE Std. 1149.1 JTAG) | — |
| Pin-Locking | Yes | — |
| প্যাকেজ | TQFP-44 (10x10 mm) | 44-pin TQFP |
| মাউন্টিং টাইপ | Surface Mount | Surface Mount |
| অপারেটিং তাপমাত্রা | [DATA_NEEDED: industrial/commercial grade] | 0°C to +85°C (commercial) |
| Lead Finish | Lead-free (NiPdAu, AF suffix) | — |
| RoHS স্ট্যাটাস | Compliant | Compliant |
| Configuration Memory Cycles | 100 erase/program cycles | — |
| Family | — | MAX 3000A |
| Logic Array Blocks | — | 2 |
| User I/O Pins | — | 34 |
| পিনের সংখ্যা | — | 44 |
| Speed Grade | — | -7 (7.5 ns pin-to-pin delay) |
| Pin-to-Pin Delay (tPD) | — | 7.5 ns |
| Maximum Counter Frequency | — | 192.3 MHz (-7 grade) |
| Supply Voltage (VCC) | — | 3.3 V |
| MultiVolt I/O | — | 1.8 V / 2.5 V / 3.3 V |
| Programmability | — | EEPROM, in-system programmable (ISP) |
| JTAG Interface | — | IEEE Std. 1149.1 compliant |
| ISP Standard | — | IEEE Std. 1532 compliant |
| Boundary-Scan Test (BST) | — | Built-in, JTAG-driven |